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模塊化科研級穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部
  • 品       牌HORIBA
  • 型       號Fluorolog-QM
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時間2024/8/9 16:37:41
  • 訪問次數(shù)633
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成立于1819年,Jobin Yvon公司的總部設(shè)在高科技發(fā)達的法國首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中,Jobin Yvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來的一貫宗旨——高品質(zhì),為客戶提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品:

 

 · 1900年 世博會上的干涉儀、光彈性測量儀      
 · 1962年 雙級光譜儀和1400系列雙級激光拉曼光譜儀以及計算機全控制熒光光譜儀  
 · 1968年 商品化全息光柵      
 · 1973年 相差校正全息光柵(榮獲IR100獎)      
 · 1977年 拉曼分子顯微探針(IR100獎),順序掃描型ICP光譜儀    
 · 1975年 全計算機化光子計數(shù)拉曼光譜儀和全計算機化光子計數(shù)熒光光譜儀  
 · 1983年 離子刻蝕“閃耀”全息光柵    
 · 1985年 光柵型波分復(fù)用器    
 · 1989年 超級校正全息光柵和二維成像光譜儀    
 · 1996年 榮獲法國CNRS佳橢偏儀獎    
 · 1998年 可配CCD檢測器的Triax系列光譜儀(獲激光儀誘導(dǎo)發(fā)光技術(shù)獎)    
 · 1998-1996年 收購美國品牌SPEX、法國Dilor和法國Sofie儀器公司    
 · 2001年 獲得美國宇航局(NASA)頒發(fā)“宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻獎”    
 · 2002年 世界FTIFR聯(lián)用拉曼光譜儀,在Pittcon展會獲得Editor佳新品獎  
 · 2002-2003年 收購德國Philips橢偏儀公司和IBH(英格蘭)公司    
 · 2006年 美國宇航局(NASA)噴射推進實驗室頒發(fā)“運行碳觀測器(OCO)衍射光柵杰出貢獻獎”

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HORIBA歐洲總部

 

自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了儀器制造集團――HORIBA公司,完成了公司強強聯(lián)手。

 

如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設(shè)有生產(chǎn)廠家?,F(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外,還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品,如:激光拉曼光譜儀(Raman),熒光(壽命)光譜儀(FL),直讀火花光譜儀(SPARK),電感耦合等離子發(fā)射光譜儀(ICP),輝光放電光譜儀(GDS),橢圓偏振光譜儀(Ellipsometry),特殊搭建系統(tǒng)(System)及各種光學(xué)光譜器件(成像光譜儀,光源,IR檢測器,CCD檢測器等)。

 

目前,HORIBA Jobin Yvon公司設(shè)立了薄膜部、拉曼(光譜儀)部、發(fā)射(光譜儀)部、熒光(光譜儀)部、法醫(yī)部、光學(xué)儀器部、光柵&OEM儀器部等7個部門。旨在為您提供強大的技術(shù)支持與科研保障!

 

 

 

科學(xué)儀器:拉曼光譜分析,拉曼光譜設(shè)備,熒光光譜儀,粒度分布儀,粒度分析儀
產(chǎn)地 進口 產(chǎn)品新舊 全新
靈敏度 優(yōu)于35000:1 波長準(zhǔn)確度 優(yōu)于±0.1nm
分辨率 優(yōu)于±0.1nm 狹縫(光譜通帶) 180-5500nm
色散單元 光柵
HORIBA Fluorolog-QM模塊化科研級穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜儀:代表了五十多年HORIBA 的熒光行業(yè)先進經(jīng)驗以及制造高水平和功能多樣性的熒光光譜儀。相較于其他科研級熒光光譜儀,F(xiàn)luorolog-QM 以其全波長范圍內(nèi)的反射性能以及眾多的光源和檢測器選擇方案,全套壽命技術(shù)擴展了壽命測試波長范圍至5500nm,以及顯微鏡、X射線、低溫量子產(chǎn)率、偏振、遠程測試、變溫高溫等多種附件選擇方案等優(yōu)勢,
模塊化科研級穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜儀 產(chǎn)品信息

HORIBA 模塊化科研級穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜儀

Fluorolog-QM 代表了五十多年HORIBA 的熒光行業(yè)先進經(jīng)驗以及制造高水平和功能多樣性的熒光光譜儀。相較于其他科研級熒光光譜儀,F(xiàn)luorolog-QM 以其全波長范圍內(nèi)的反射性能以及眾多的光源和檢測器選擇方案,全套壽命技術(shù)擴展了壽命測試波長范圍至5500nm,以及顯微鏡、X射線、低溫量子產(chǎn)率、偏振、遠程測試、變溫高溫等多種附件選擇方案等優(yōu)勢,為熒光測試提供高靈敏度和無限拓展性。

 

“儀器性能、通用性及操作便捷性的飛躍提升” 

l  反射式光路設(shè)計,保證全波長范圍準(zhǔn)確聚焦,無需調(diào)整光路,性能全優(yōu)化,這是高靈敏度的保證

l  具備優(yōu)勢的雜散光抑制比,像差校正長焦長單色儀(單級:350 mm,雙級:700 mm)

l  配備專業(yè)分析軟件,滿足所有穩(wěn)態(tài)和壽命測試需求,具有多種新型壽命擬合功能

l  擴展波長范圍,光路由氣氛保護,保證深紫外到近紅外區(qū)域的檢測

l  可同時連接4種光源和6個檢測器,且全部由電腦控制,實現(xiàn)多功能測試

l  即插即用,100 MHz脈沖光源,強化TCSPC壽命功能

l  近紅外穩(wěn)態(tài)和磷光壽命檢測波長至5500 nm

l  優(yōu)化的光學(xué)設(shè)計,氙燈光源擴展深紫外激發(fā)(低至180 nm),無臭氧

 

HORIBA Fluorolog-QM模塊化科研級穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜儀

高靈敏度 

Fluorolog-QM具有HORIBA PowerArcTM型氙燈光源配合橢球形反射鏡,實現(xiàn)70%超高聚光效率,并可將光束聚焦在單色儀狹縫處極小的點上,可更快速地激發(fā)樣品,減少光源功率過大帶來的高能耗與高熱量,維護成本也顯著降低。 

Fluorolog-QM采用了像差校正的單色儀,該單色儀針對光通量與雜散光進行了優(yōu)化,也保證了Fluorolog-QM的高靈敏度。 

全反射式聚焦光路,使得全光譜范圍(180~5500nm)準(zhǔn)確聚焦樣品表面,保證了Fluorolog-QM的高靈敏度。 

高分辨率 

Fluorolog-QM系列熒光光譜儀使用350 mm焦長非對稱Czerny-Turner設(shè)計單色儀,帶有電動三光柵塔輪和電動轉(zhuǎn)折鏡,超過30種光柵可選。 

通過電腦控制高精度微步電機和優(yōu)化后的光柵相結(jié)合,實現(xiàn)小至0.01 nm步進,與光學(xué)設(shè)計、長焦長、全反射光學(xué)和抑制光學(xué)像差相結(jié)合,可實現(xiàn)優(yōu)于0.1nm的高光譜分辨率。 

雜散光抑制顯著 

Fluorolog-QM系列熒光光譜儀,配備50 mm焦長非對稱式Czerny-Turner單色儀,采用光路像差校正,分別針對激發(fā)、發(fā)射側(cè)獨立優(yōu)化,確保高雜散光抑制能力,獲得熒光信號。單級單色儀具有1×10-5的高雜散光抑制比,為了實現(xiàn)更高的靈敏度和光譜性能,F(xiàn)luorolog-QM還可配置兩個350 mm焦長的單色儀,從而實現(xiàn) 700 mm焦距和1×10-10雜散光抑制比,相較于其他熒光光譜儀,HORIBA 雙級中間狹縫光學(xué)設(shè)計(軟件控制),進一步優(yōu)化分辨率和雜散光抑制比。 

滿足不同測試需求的多種硬件配置解決方案 

Fluorolog-QM系列采用開放式的結(jié)構(gòu)設(shè)計,可實現(xiàn)無限擴展,滿足未來任何可能的熒光應(yīng)用需求。您可以通過選擇光源、光柵和檢測器以及大量可用的附件來優(yōu)化最初配置??蛇x配置多種多樣! 

可同時連接4種光源和6個檢測器,且全部由電腦控制,實現(xiàn)多功能測試。 

配合TCSPC,MCS,SSTD和真實門控技術(shù),保證了全光譜穩(wěn)瞬態(tài)(皮秒~秒及長余輝測試)、磷光光譜(延遲光譜)測試功能。 

TCSPC壽命測量 

Fluorolog-QM 系列輕松擴展TCSPC 壽命測試系統(tǒng)。利用先進的TCSPC 激發(fā)光源,電子計時單元和檢測器,F(xiàn)luorolog-QM 可提供快速的測試,強大的通用性。 

l  所有的穩(wěn)態(tài)/ 時間分辨控制,采集和分析都在FelixFL 軟件中進行。

l  超過40 年的TCSPC 研發(fā)和生產(chǎn)經(jīng)驗

l 100 MHz操作系統(tǒng),實現(xiàn)毫秒內(nèi)完成采集

l  根據(jù)壽命測試時間范圍,軟件自動控制脈沖光源頻率

l  TCSPC 壽命測試范圍從5 ps到s

l  FelixFL軟件包實現(xiàn)穩(wěn)/瞬態(tài)采集

l  可測量TCSPC壽命、時間分辨各向異性和時間分辨發(fā)射光譜(TRES)

l  超過60個先進的脈沖LED和脈沖激光可供選擇

l  配合HORIBA倍頻器,擴展皮秒超連續(xù)激光器的多用途—研究蛋白時間分辨的強大工具

l  壽命衰減曲線分析包具有多種擬合模型,包括最大熵法(MEM)壽命分布程序

 

近紅外解決方案(適合熱點研究應(yīng)用:稀土、量子點、AIE、近紅外二區(qū)探針等) 

SSTD磷光檢測模式是所有Fluorolog-QM系統(tǒng)的標(biāo)配功能,為近紅外樣品的近紅外發(fā)光研究提供解決方案。SSTD測試速度比傳統(tǒng)的MCS技術(shù)快8倍,并且不受檢測器類型限制(MCS技術(shù)只能配合PMT檢測器),從而擴展壽命檢測范圍至5500nm。 

Fluorolog-QM可配備多個光源和檢測器,以覆蓋最寬波長范圍的穩(wěn)態(tài)光譜,熒光和磷光壽命測試需求??蓞⒖家韵屡渲?

l  配置R928 PMT、NIR PMT(H0330或R5509-73市場主流型號)、InGaAs和InSb檢測器的雙發(fā)射單色儀覆蓋范圍從185 nm到5500 nm

l  用于穩(wěn)態(tài)光譜的連續(xù)氙燈

l  20 Hz Q調(diào)制開關(guān)/OPO激光器,用于210 nm到2200 nm的可調(diào)激發(fā)

l  180 nm到5500 nm的穩(wěn)態(tài)光譜

l  單脈沖實時采集技術(shù)(SSTD)用于測量從185 nm到5500 nm范圍內(nèi)的磷光衰減

 

多種近紅外熒光測試解決方案 

NIR PMT檢測器

NIR PMT檢測器具有超高靈敏度,同時適用于穩(wěn)態(tài)和TCSPC壽命測量,目前TCSPC電子設(shè)備是獲得皮秒到納秒熒光壽命的選擇選擇。

4款NIR PMT,滿足寬光譜覆蓋范圍

l  300~1400 nm,液氮制冷

l  300~1700 nm,液氮制冷

l  950~1400 nm,電制冷

l  950~1700 nm,電制冷

 

固態(tài)光電二極管近紅外檢測器

HORIBA可提供多種光電二極管,包含LN制冷,檢測范圍可擴展至5500 nm。

l  InGaAs: 800~1700 nm/1900/2100/2600 nm

l  InAs: 1000~3450 nm

l  InSb: 1500~5500 nm

 

NIR 壽命測量波長范圍可達5500 nm!

以上列出所有檢測器均可在單脈沖磷光(SSTD)模式中用于NIR發(fā)光壽命測量,壽命測量范圍可從1微秒至秒。SSTD技術(shù)具有超快檢測速度和超高的信噪比:

l  可調(diào)超高頻閃爍氙燈,用于熒光壽命測試

l  第三方脈沖Q調(diào)制激光器

l  相較于NIR PMT,固態(tài)近紅外檢測器提供更高性價比的磷光檢測方案。

 

強大的FelixFL軟件

Fluorolog-QM 熒光光譜儀集成FelixFL軟件,實現(xiàn)儀器硬件和附件控制。FelixFL作為新型軟件平臺,界面友好,操作簡單,可用于所有穩(wěn)態(tài)及時間相關(guān)光譜的采集和分析。通過USB接口連接,F(xiàn)elixFL即可擁有全套數(shù)據(jù)采集支持,實現(xiàn)控制所有系統(tǒng)配置和運行多種操作模式。

 

高級運算

FelixFL軟件提供多種定制化功能,包括量子產(chǎn)率、吸收、FRET,色坐標(biāo)計算,以及單壁碳納米管結(jié)構(gòu)參數(shù)等。這對擴展(例如積分球和吸收附件)數(shù)據(jù)分析非常方便,并且對于一些熒光應(yīng)用也*,例如分子間相互作用(FRET)和材料表征。

l  單壁碳納米管結(jié)構(gòu)計算

l  色坐標(biāo)計算

l  吸收計算器

l  絕對量子產(chǎn)率

l  FRET熒光共振能量轉(zhuǎn)移

 

多種附件可選

Fluorolog-QM系列具有全面的配件系統(tǒng),研究人員可以根據(jù)實驗需求,不斷擴展儀器功能

l  絕對量子產(chǎn)率測量積分球附件

l  偏振附件

l  吸收/透射附件

l  微量比色皿:250 μl 微量樣品池;500μl 比色皿5×5 mm

l  2位和4位磁力攪拌控溫樣品支架

l  4位磁力攪拌樣品支架

l  液氮或液氦低溫恒溫器

l  固體樣品架,測試角度360°可調(diào),滿足樣品前表面熒光測量,適用于薄膜,粉末,顆粒,紙張,纖維和顯微載玻片等樣品測量

l  自動滴定儀雙注射,雙閥

l  Hi-tech SFA-20超快停留動力學(xué)附件

l  密封防刮標(biāo)準(zhǔn)水樣品,用于水拉曼S/N驗證

l  發(fā)射校正因子附件

l  激發(fā)校正因子附件

l  上轉(zhuǎn)換激光附件

l  20 μl HPLC 流動樣品池

l  X射線源

l  顯微鏡

l  高溫附件

l  變溫量子產(chǎn)率

 

關(guān)鍵詞:顯微鏡 滴定儀
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