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離心式粒度分析儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部
  • 品       牌HORIBA
  • 型       號(hào)Partica CENTRIFUGE CN-300
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2024/8/9 16:35:12
  • 訪問次數(shù)861
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成立于1819年,Jobin Yvon公司的總部設(shè)在高科技發(fā)達(dá)的法國首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中,Jobin Yvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來的一貫宗旨——高品質(zhì),為客戶提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品:

 

 · 1900年 世博會(huì)上的干涉儀、光彈性測(cè)量儀      
 · 1962年 雙級(jí)光譜儀和1400系列雙級(jí)激光拉曼光譜儀以及計(jì)算機(jī)全控制熒光光譜儀  
 · 1968年 商品化全息光柵      
 · 1973年 相差校正全息光柵(榮獲IR100獎(jiǎng))      
 · 1977年 拉曼分子顯微探針(IR100獎(jiǎng)),順序掃描型ICP光譜儀    
 · 1975年 全計(jì)算機(jī)化光子計(jì)數(shù)拉曼光譜儀和全計(jì)算機(jī)化光子計(jì)數(shù)熒光光譜儀  
 · 1983年 離子刻蝕“閃耀”全息光柵    
 · 1985年 光柵型波分復(fù)用器    
 · 1989年 超級(jí)校正全息光柵和二維成像光譜儀    
 · 1996年 榮獲法國CNRS佳橢偏儀獎(jiǎng)    
 · 1998年 可配CCD檢測(cè)器的Triax系列光譜儀(獲激光儀誘導(dǎo)發(fā)光技術(shù)獎(jiǎng))    
 · 1998-1996年 收購美國品牌SPEX、法國Dilor和法國Sofie儀器公司    
 · 2001年 獲得美國宇航局(NASA)頒發(fā)“宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻(xiàn)獎(jiǎng)”    
 · 2002年 世界FTIFR聯(lián)用拉曼光譜儀,在Pittcon展會(huì)獲得Editor佳新品獎(jiǎng)  
 · 2002-2003年 收購德國Philips橢偏儀公司和IBH(英格蘭)公司    
 · 2006年 美國宇航局(NASA)噴射推進(jìn)實(shí)驗(yàn)室頒發(fā)“運(yùn)行碳觀測(cè)器(OCO)衍射光柵杰出貢獻(xiàn)獎(jiǎng)”

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HORIBA歐洲總部

 

自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了儀器制造集團(tuán)――HORIBA公司,完成了公司強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)手。

 

如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設(shè)有生產(chǎn)廠家。現(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外,還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品,如:激光拉曼光譜儀(Raman),熒光(壽命)光譜儀(FL),直讀火花光譜儀(SPARK),電感耦合等離子發(fā)射光譜儀(ICP),輝光放電光譜儀(GDS),橢圓偏振光譜儀(Ellipsometry),特殊搭建系統(tǒng)(System)及各種光學(xué)光譜器件(成像光譜儀,光源,IR檢測(cè)器,CCD檢測(cè)器等)。

 

目前,HORIBA Jobin Yvon公司設(shè)立了薄膜部、拉曼(光譜儀)部、發(fā)射(光譜儀)部、熒光(光譜儀)部、法醫(yī)部、光學(xué)儀器部、光柵&OEM儀器部等7個(gè)部門。旨在為您提供強(qiáng)大的技術(shù)支持與科研保障!

 

 

 

科學(xué)儀器:拉曼光譜分析,拉曼光譜設(shè)備,熒光光譜儀,粒度分布儀,粒度分析儀
產(chǎn)地 進(jìn)口 產(chǎn)品新舊 全新
HORIBA Partica CENTRIFUGE CN-300離心式粒度分析儀:通過離心進(jìn)行高分辨率粒度分布測(cè)量。
離心式粒度分析儀 產(chǎn)品信息

HORIBA Partica CENTRIFUGE CN-300離心式粒度分析儀

離心式粒度分析儀,通過離心進(jìn)行高分辨率粒度分布測(cè)量。

CN-300 的測(cè)量范圍為 10 nm - 40 μm,可施加高達(dá) 30,000g 的離心力,并使用溫度控制為各種樣品產(chǎn)生準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。

根據(jù)客戶反饋開發(fā)并改進(jìn)現(xiàn)有和新的 HORIBA 技術(shù),其結(jié)果是提供安全可靠的操作,同時(shí)也易于使用的分析儀。

實(shí)現(xiàn)對(duì)未稀釋和稀釋樣品粒徑分布的精確測(cè)量
顆粒的粒度是按粒徑大小分類后測(cè)量的,這是離心分離法的關(guān)鍵特點(diǎn)。因此,一次測(cè)量就能得到寬范圍內(nèi)的高精度結(jié)果。CN-300可提供兩種測(cè)量方法:“密度梯度模式”和均一模式”。

可捕捉到少量雜質(zhì)顆?;驁F(tuán)聚體
CN-300因其高分辨率可以捕獲到少量的雜質(zhì)顆粒。它能讓你在全粒徑分布范圍內(nèi)獲得可靠的測(cè)量結(jié)果,包括含量少占比低的顆粒群。

儀器在長時(shí)間測(cè)量后性能依然穩(wěn)定
樣品室和轉(zhuǎn)盤具有冷卻功能,可防止樣品在旋轉(zhuǎn)過程中溫度升高。通過保持溶劑的粘度恒定提高測(cè)量結(jié)果的可靠性。CN-300更安靜,操作更簡單安全。

堅(jiān)固耐用易操作

• 僅需將樣品注入樣品池

• 比色皿式樣品池易清潔、易更換,減少樣品交叉污染的風(fēng)險(xiǎn)。

• 符合國際安全標(biāo)準(zhǔn) (IEC6101-1/2-020)


測(cè)量案例

高分辨率測(cè)量粒徑分布

下圖為離心粒度分析儀測(cè)量含有四種相同濃度的二氧化硅標(biāo)準(zhǔn)顆粒的混合樣品的結(jié)果,四種不同粒徑顆粒所占面積幾乎相同。因?yàn)轭w粒按離心力分類,使用密度梯度模式測(cè)量可以獲得準(zhǔn)確的粒度分布。

1.jpg

樣品:標(biāo)準(zhǔn)顆粒(取0.48 μm、0.73 μm、0.99 μm和1.57 μm標(biāo)準(zhǔn)樣品各一滴后進(jìn)行混合)
樣品量:10 μL
溶劑:蔗糖溶液
測(cè)量條件:密度梯度模式


少量高濃度樣品粒徑分布的測(cè)量

離心粒度儀可以測(cè)量其他方法難以測(cè)量的高濃度樣品,如用于噴墨打印機(jī)的未稀釋黑色顏料,并得到高精度的測(cè)量結(jié)果,所需樣品量僅為2 μL。

2.jpg

樣品:噴墨打印機(jī)黑色顏料(未稀釋溶液)
進(jìn)樣量:2 μL
溶劑:蔗糖溶液測(cè)量條件: 密度梯度模式

HORIBA Partica CENTRIFUGE CN-300離心式粒度分析儀

 

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