1)精煉的全新設(shè)計(jì):在提高機(jī)械和電氣穩(wěn)定性的同時,憑借對透射電鏡的豐富經(jīng)驗(yàn),對電鏡整體進(jìn)行了精煉全新設(shè)計(jì),力求為用戶提供全新感受;
2) 四級聚光鏡設(shè)計(jì):為了*大程度發(fā)揮出STEM功能,JEM-F200進(jìn)行了全新概念的四級聚光鏡設(shè)計(jì),亮度和匯聚角可以分別控制;
3)優(yōu)異掃描系統(tǒng):在照明系統(tǒng)掃描功能之上又增加了成像系統(tǒng)的掃描功能(選購件)可以獲得大范圍的STEM-EELS;
4)皮米樣品臺控制:標(biāo)配的壓電陶瓷控制樣品臺,可以在原子尺度上獲得精準(zhǔn)的移動;
5)全自動裝樣測角臺(SPECPORTER):樣品桿的插入拔出只需電鈕即可全自動實(shí)現(xiàn),彰顯其便利性及安全性;
6)成熟的冷場發(fā)射技術(shù):將JEOL應(yīng)用在球差校正技術(shù)上的優(yōu)異冷場發(fā)射技術(shù)移植到普通的場發(fā)射透射上,可獲得更好的高分辨觀察、更高效的成分分析和更好的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)分析;
7)雙超級能譜設(shè)計(jì):可安裝雙超級能譜,將普通電鏡能譜的分析能力拓展到原子尺度;
8)節(jié)能減排:啟用省電模式耗電量降低80%。