| 產(chǎn)品詳細(xì)說(shuō)明 | |
在近代科學(xué)技術(shù)的許多領(lǐng)域中對(duì)各種薄膜的研究和應(yīng)用日益廣泛。因此，更加精確和迅速的測(cè)定給定薄膜的光學(xué)參數(shù)已變得更加迫切和重要。在實(shí)際工作中可以利用各種傳統(tǒng)的方法測(cè)定光學(xué)參數(shù)，如：布儒斯特角法測(cè)介質(zhì)膜的折射率，干涉法測(cè)膜厚，其它測(cè)膜厚的方法還有稱重法、X射線法、電容法、橢偏法等。由于橢圓偏振法具有靈敏度高、精度高、非破壞性測(cè)量等優(yōu)點(diǎn)，因而，橢圓偏振法測(cè)量已在光學(xué)、半導(dǎo)體、生物、醫(yī)學(xué)等諸多領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。 產(chǎn)品特點(diǎn)： 儀器采用消光法自動(dòng)測(cè)量薄膜厚度和折射率，具有精度高、靈敏度高以及方便測(cè)量等特點(diǎn)； 光源采用氦氖激光器，功率穩(wěn)定、波長(zhǎng)精度高； 儀器配有生成表、查表以及精確計(jì)算等軟件，方便用戶使用。 規(guī)格與主要技術(shù)指標(biāo)： 測(cè)量范圍：薄膜厚度范圍：1nm-300nm； 折射率范圍：1-10 測(cè)量zui小示值：≤1nm 入射光波長(zhǎng)：632.8nm 光學(xué)中心高：80mm 允許樣品尺寸：φ10-φ140mm，厚度≤16mm 偏振器方位角范圍：0°- 180°讀取分辨率為0.05° 測(cè)量膜厚和折射率重復(fù)性精度分別為：±1nm和±0.01 主機(jī)重量：25kg 入射角連續(xù)調(diào)節(jié)范圍：20°- 90°精度為0.05° 成套性：主機(jī)、電控系統(tǒng)、計(jì)算軟件 外形尺寸：680*390*320mm |
天津盛達(dá)三合光學(xué)儀器有限公司其前身是天津光學(xué)儀器廠，公司改制后注冊(cè)成立的科技型企業(yè)，本公司致力于藥品（藥典）檢測(cè)儀器、無(wú)損檢測(cè)儀器與實(shí)驗(yàn)儀器的生產(chǎn)與銷售，所研制的儀器均采用國(guó)內(nèi)及精良技術(shù)均符合相關(guān)規(guī)定，公司始終秉承“誠(chéng)信、品質(zhì)、努力、進(jìn)取”的企業(yè)精神“質(zhì)量打造未來(lái)，服務(wù)營(yíng)造滿意”的企業(yè)宗旨為己任。繼承老一輩光學(xué)人的優(yōu)良傳統(tǒng)，持之以恒，努力進(jìn)取。產(chǎn)品將從選材加工與制造每個(gè)環(huán)節(jié)嚴(yán)格把關(guān)，以優(yōu)惠的價(jià)格，過(guò)硬的質(zhì)量回報(bào)每一位信任我們的企業(yè)客戶與經(jīng)銷商朋友。
溶出度,澄明度,崩解儀,片劑硬度測(cè)試儀,片劑脆碎度測(cè)試儀,金屬元素檢測(cè)儀，看譜鏡、里氏硬度計(jì)、數(shù)字超聲波測(cè)厚儀、數(shù)字超聲波探傷儀，金屬分析儀等多項(xiàng)無(wú)損檢測(cè)產(chǎn)品
橢圓偏振測(cè)厚儀 產(chǎn)品信息
同類產(chǎn)品推薦
在找 橢圓偏振測(cè)厚儀 產(chǎn)品的人還在看
采購(gòu)中心
