LC15DX
革命性第三代激光掃描測(cè)頭
精度可媲美接觸式測(cè)頭
LC15Dx *可以替代接觸式測(cè)頭,用于日益普遍的高精度三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)應(yīng)用。該機(jī)器可在不影響生產(chǎn)周期的情況下更精確地測(cè)量產(chǎn)品尺寸。此外,它還能更高效地測(cè)量多種部件、幾何體及材料,其中包括因尺寸極小或易碎而不宜使用接觸式測(cè)頭測(cè)量的部件。
優(yōu)點(diǎn)
精度可媲美接觸式測(cè)頭
采用激光掃描測(cè)頭技術(shù)的 LC15Dx 達(dá)到了與接觸式測(cè)頭同級(jí)別的精度。在按照 ISO 10360-2 MPEP 和 ISO 10360-5 MPEAL 的測(cè)試中,LC15Dx 達(dá)到了與使用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)和接觸式測(cè)頭相當(dāng)?shù)木?。但與接觸式測(cè)頭不同的是,LC15Dx 使用非接觸式 3D 激光三角測(cè)量法直接測(cè)量物體表面并消除了測(cè)頭補(bǔ)償誤差。掃描測(cè)頭內(nèi)部裝有熱穩(wěn)定器,可解決激光掃描測(cè)頭在未達(dá)到工作溫度時(shí)容易出現(xiàn)的不穩(wěn)定和延遲問題。
操作輕松的多功能掃描
尼康的 ESP3 技術(shù)可針對(duì)每個(gè)測(cè)量點(diǎn)實(shí)時(shí)智能調(diào)整激光設(shè)定。它可以更高效地測(cè)量更多種類的表面材料、飾面、顏色及連接體(包括小尺寸和易碎部件)及混合材料的尺寸,且無需用戶干預(yù)、手動(dòng)調(diào)節(jié)以及表面噴粉。*的濾光軟件過濾若干非正常反射,而高級(jí)日光濾光片則可吸收環(huán)境光。
更高的產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)水準(zhǔn)
全局比較功能可提供產(chǎn)品外觀尺寸的全 3D 視圖。整個(gè)部件可與 CAD 模型進(jìn)行對(duì)比檢查,并用色彩映射高亮顯示需要關(guān)注的區(qū)域。還可使用彈出菜單、截面圖和幾何尺寸與公差(GD&T)庫進(jìn)行進(jìn)一步的研究和分析。用戶可根據(jù)需要讓設(shè)備自動(dòng)生成或簡易或詳細(xì)的測(cè)量報(bào)告。
軟件
適合各類應(yīng)用的直觀軟件
LC15Dx 可使用包括 FOCUS 和 CAMIO在內(nèi),適用于部件與 CAD 對(duì)比檢測(cè)和特征檢測(cè)的常用軟件工具包。
重要功能包括:
• CAD 編程 • 多傳感器三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)
• 擬合 • 離線編程
• 部件與 CAD 對(duì)比 • 點(diǎn)云測(cè)量
• 特征檢測(cè) • GD&T 庫
• 葉片分析 • 教學(xué)編程
• 色彩報(bào)告 • 離線模擬
應(yīng)用
測(cè)量高精度部件和小型幾何體
LC15Dx 在測(cè)量多種高精度部件和幾何體(包括精細(xì)部件、半鋼性部件和高性能材料)時(shí)具有顯著優(yōu)勢(shì):
處理:生產(chǎn) - 研發(fā) - 逆向工程
方法:機(jī)械加工 - 模塑 - 模壓 - 澆鑄 - 鍛造
材料:金屬 - 塑料 - 橡膠 - 陶土 - 陶瓷 - 合成材料
表面處理:機(jī)械加工 - 拋光 - 電鍍 - 油漆 - 混色
結(jié)構(gòu): 剛硬 - 柔軟 - 柔韌 - 易碎
特征: 表面 - 幾何特征 - 剖面 - 截面
多傳感器三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)
結(jié)合激光掃描和接觸式探測(cè)
某些情況下,采用單傳感器技術(shù)無法測(cè)量所有特征。LC15Dx 可結(jié)合使用選購的接觸式測(cè)頭構(gòu)成多傳感器三坐標(biāo)多功能測(cè)量機(jī)。根據(jù)應(yīng)用需求,可在相同的檢測(cè)項(xiàng)目中單獨(dú)或共同使用這兩項(xiàng)技術(shù)。在三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)平臺(tái)上加裝切換和存儲(chǔ)支架選購件后,可以自動(dòng)切換傳感器。
升級(jí)改造
提升當(dāng)前三座標(biāo)測(cè)量機(jī)的能力
使用 LC15Dx 來改進(jìn)您當(dāng)前的三座標(biāo)測(cè)量機(jī)是一種低成本高收益的解決方案。這種改進(jìn)基于現(xiàn)有的三座標(biāo)測(cè)量機(jī)控制器硬件,附之以兼容的*測(cè)頭系統(tǒng),構(gòu)成可進(jìn)行接觸及非接觸式測(cè)量的多傳感器三座標(biāo)多功能測(cè)量機(jī)。
LC15Dx 改進(jìn)套件可用于以下三座標(biāo)測(cè)量機(jī)控制器系統(tǒng)。
• Aberlink • Hexagon DEA • Renishaw
• Deva • Hexagon Brown & Sharpe • Wenze
• Coord3 • Hexagon Sheffield • Werth
• Dukin • Mitutoyo • Zeiss
規(guī) 格
探測(cè)誤差(MPEP)1 2.5μm (0.0001in) 多測(cè)針測(cè)試(MpeAL)2 6μm (0.00024in) 分辨率(點(diǎn)距) 22μm (0.00087in) 數(shù)據(jù)采集(近似值) 70,000 點(diǎn)/秒 每線點(diǎn)數(shù)(近似值) 900 測(cè)量溫度范圍 18-22°C (64.4-71.6°F) 工作溫度范圍 10-40°C (50-104°F) 預(yù)熱時(shí)間 0(零)秒 重量 370g (13oz) 防護(hù)等級(jí) IP30 電源 110/240VAc, 50/60Hz 5A 增強(qiáng)掃描測(cè)頭性能(ESP3) √ 日光濾光片 √ 測(cè)頭兼容性3 PH10M, PH10MQ, CW43, PHS 激光類型 2 類(670μm)