產(chǎn)品概述
SCS100全功能型太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng)功能：
適用電池：全系列太陽(yáng)能電池光譜范圍：300-1100nm，可擴(kuò)展至1700nm
可測(cè)量參數(shù)：光譜響應(yīng)度、外量子效率、光子電子轉(zhuǎn)換效率、內(nèi)量子效率、反射率、透射率、積分短路電流密度、光束誘導(dǎo)電流、量子效率制圖、反射率制圖、光束誘導(dǎo)電流制圖
可測(cè)樣品尺寸：156mmX156mm
可測(cè)樣品模式：交、直流測(cè)試法、交、直流偏置光測(cè)試法
SCS100全功能型太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng)特點(diǎn)：
1. 全光譜太陽(yáng)光模擬，雙光源切換可選，高光強(qiáng)穩(wěn)定性
系統(tǒng)采用符合IEC60904 標(biāo)準(zhǔn)的雙光源配置，采用氙燈和溴鎢燈來(lái)覆蓋太陽(yáng)光譜的整個(gè)范圍。無(wú)論是氙燈還是溴鎢燈，都可以提供超高的光強(qiáng)穩(wěn)定性，從而保證系統(tǒng)測(cè)試結(jié)果的高重復(fù)性。當(dāng)不同的波段光譜測(cè)量時(shí)，選擇合適的光源波長(zhǎng)與相匹配的標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器，可以更限度的優(yōu)化太陽(yáng)能電池量子效率的測(cè)試結(jié)果。
1000s 的持續(xù)光強(qiáng)測(cè)試與局部放大圖
測(cè)試光源：氙燈或溴鎢燈; 測(cè)試時(shí)間：1000s; 光源時(shí)間不穩(wěn)定度：<0.8%
測(cè)試光源：氙燈或溴鎢燈; 測(cè)試時(shí)間：1000s; 光源時(shí)間不穩(wěn)定度：<0.8%
2. 高重復(fù)性測(cè)試結(jié)果
系統(tǒng)從光源的穩(wěn)定性、單色儀的波長(zhǎng)準(zhǔn)確性與重復(fù)性、*的光路設(shè)計(jì)、樣品的加持、數(shù)據(jù)的采集方式上確保測(cè)試結(jié)果的高重復(fù)性。
5 次每次間隔1 小時(shí)的測(cè)試結(jié)果與全波段重復(fù)性測(cè)試
在系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)中，將實(shí)用的儀器控制部分匯總到一個(gè)界面，將實(shí)用的儀器參數(shù)設(shè)置部分匯總到另一個(gè)界面，從而更大限度的將控制操作簡(jiǎn)化，實(shí)現(xiàn)一鍵運(yùn)行。
儀器參數(shù)設(shè)置可以按照不同樣品的測(cè)試需求保存為獨(dú)立的配置文件并導(dǎo)出，從而實(shí)現(xiàn)快速還原與測(cè)試的功能，隨時(shí)調(diào)出原有保留的參數(shù)設(shè)置。同樣配置的不同系統(tǒng)之間也可以統(tǒng)一相互調(diào)用。
系統(tǒng)軟件可以準(zhǔn)確得到理論積分電流密度值，并按照需求保存原始數(shù)據(jù)，支持ASCII、Excel、XML 等多種格式數(shù)據(jù)導(dǎo)出。以便使用主流數(shù)據(jù)處理軟件調(diào)用，方便后續(xù)數(shù)據(jù)處理與分析。
4. 快速M(fèi)apping功能
快速M(fèi)apping 功能包括：
1）量子效率Mapping 功能
2）反射率Mapping 功能
3）光束誘導(dǎo)電流（LBIC）功能
該功能針對(duì)100mmX100mm 以上的較大面積的成品太陽(yáng)能電池片，用戶可以從Mapping 功能獲得的數(shù)據(jù)中得到關(guān)于電池片的少子擴(kuò)散情況、電池片缺陷分布等信息。
在酸洗過(guò)程中有酸液殘留，從而有肉眼無(wú)法直接觀察到的電池片缺陷，影響了整體太陽(yáng)能電池片的效率。
上述LBIC Mapping 數(shù)據(jù)是在同一個(gè)電池片上使用400nm、650nm 與950nm 三個(gè)波長(zhǎng)掃描得到的。650nm 和950nm 的掃描
數(shù)據(jù)顯示電池片具有良好的均勻性，但是在400nm 掃描的數(shù)據(jù)上，我們發(fā)現(xiàn)電池片邊緣有不均勻的區(qū)域存在。
不同的測(cè)試波長(zhǎng)所對(duì)應(yīng)的穿透深度各不相同。對(duì)于晶體硅太陽(yáng)能電池片來(lái)說(shuō)，藍(lán)光波長(zhǎng)短，穿透深度淺，LBIC Mapping 功能
可以將樣品制備過(guò)程中產(chǎn)生的表面缺陷等問(wèn)題反映出來(lái)；而紅光與近紅外光波長(zhǎng)較長(zhǎng)，穿透深度更深，LBIC Mapping 功能更適用于測(cè)試材料內(nèi)部的缺陷等問(wèn)題。
規(guī)格/型號(hào) | SCS1011 | SCS1012 | SCS1013 | SCS1014 | SCS1015 | SCS1016 |
光源 | 氙燈 | 氙燈 | 溴鎢燈 | 溴鎢燈 | 雙光源 | 雙光源 |
光譜范圍 | 300-1100nm，可以擴(kuò)展至1700nm | |||||
測(cè)量重復(fù)性 | >99.7%（@400-1000nm），>99.4%（@300-400nm，>1000nm） | |||||
測(cè)試光斑 | 直徑2-10mm可調(diào) | |||||
光柵 | 68mmX68mm大面積光柵，電動(dòng)三光柵塔臺(tái) | |||||
濾光片 | 自動(dòng)濾光片輪 | |||||
光譜帶寬 | <5nm可調(diào) | |||||
單色光準(zhǔn)確性 | ±0.2nm（@1200g/mm光柵） | |||||
掃描步長(zhǎng) | 系統(tǒng)默認(rèn)5nm，*小可達(dá)0.1nm | |||||
*大可測(cè)樣品尺寸 | 156mmX156mm | |||||
直流測(cè)量模式 | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
交流測(cè)量模式 | ● | - | ● | - | ● | - |
標(biāo)準(zhǔn)硅探測(cè)器 | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
標(biāo)準(zhǔn)銦鎵砷探測(cè)器 | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ |
Mapping功能 | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ |
內(nèi)量子效率測(cè)試 | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ |
偏置光 | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ |
偏壓0-20V | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ |
計(jì)算機(jī)及軟件 | 包含計(jì)算機(jī)、鍵盤、鼠標(biāo)、正版Windows7操作系統(tǒng)以及配套系統(tǒng)軟件 | |||||
注：●為標(biāo)配，○為可選，-為無(wú)配。
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