PHI 4700 AES俄歇分析儀在開(kāi)發(fā)新材料及薄膜制程上,為了有助于了解材料組成間的相互作用及解決工藝流程的問(wèn)題,材料組成或薄膜迭層的深度分析是非常重要的。
PHI 4700 AES俄歇分析儀使用了AES分析技術(shù)為基礎(chǔ),搭配靈敏度半球型能量分析器、10 kV LaB6掃瞄式電子槍、5 kV浮動(dòng)柱狀式Ar離子槍及高精密度自動(dòng)樣品座。針對(duì)例行性的俄歇縱深分析、微區(qū)域的故障分析,提供了全自動(dòng)與及高經(jīng)濟(jì)效益的解決方法。
PHI 4700是建基于Ulvac-Phi公司的高性能PHI 700Xi俄歇掃描納米探針。它提供了高度自動(dòng)化,低成本、高效益的方案進(jìn)行例行俄歇深度分析和微米范圍的故障分析。 PHI 4700可以輕易的配備上互聯(lián)網(wǎng)的設(shè)備,以供遠(yuǎn)程操作或監(jiān)控之用。
全自動(dòng)多樣品縱深分析:PHI 4700薄膜分析儀在微小區(qū)域之縱深分析擁有的經(jīng)濟(jì)效益,可在SEM上特定微米等級(jí)之微小區(qū)域快速進(jìn)行深度分析。圖2顯示長(zhǎng)年使用的yi動(dòng)電話鍍金電極正常與變色兩個(gè)樣品之縱深分析結(jié)果,兩者材質(zhì)皆為鍍金之錫磷合金。從電極二(變色電極)可看到金屬錫擴(kuò)散到鍍金膜上,因?yàn)榻缑娴母g而產(chǎn)生氧及錫導(dǎo)致電極變色。
靈敏度半球型能量分析器:PHI 4700半球形能量分析器和高傳輸輸入透鏡可提供zui高的靈敏度和大幅縮短樣品分析時(shí)間。除此之外,具有全自動(dòng)的量測(cè)功能,此裝置可在短時(shí)間內(nèi)測(cè)量多個(gè)樣品。 點(diǎn)選屏幕上軟件所顯示的樣品座,可以記錄欲量測(cè)的位置,對(duì)產(chǎn)品與工藝流程管理上之?dāng)?shù)據(jù)搜集可進(jìn)行個(gè)別分析。
10 kV LaB6掃瞄式電子槍?zhuān)篜HI的06-220電子槍是基于一個(gè)以LaB6為電子源燈絲以提供穩(wěn)定且長(zhǎng)壽命電子槍的工具,主要在氬氣濺射薄膜時(shí)進(jìn)行深度分析。06-220電子槍還可以:產(chǎn)生二次電子成像,俄歇測(cè)繪和多點(diǎn)分析。在加速電壓調(diào)節(jié)從0.2至10千伏。電子束的最小尺寸可保證小于80納米。
浮動(dòng)柱狀式Ar離子槍?zhuān)篜HI的FIG5B浮動(dòng)柱狀式Ar離子槍:提供離子由5伏到5千伏。大電流高能量離子束被用于厚膜,低能量離子束(250-500 V)用于超薄膜。浮動(dòng)柱狀式,確保高蝕刻率與低加速電壓。物理彎曲柱會(huì)阻止高能量的中性原子,從而改善了濺射坑形狀和減少對(duì)鄰近地區(qū)的濺射。
五軸電動(dòng)樣品臺(tái)和Zalar方位旋轉(zhuǎn):PHI 15-680精密樣品臺(tái)提供5軸樣品傳送:X,Y,Z,旋轉(zhuǎn)和傾斜。所有軸都設(shè)有馬達(dá)及軟件控制,以方便就多個(gè)樣品進(jìn)行的自動(dòng)縱深分析。樣品臺(tái)提供Zalar(方位角)旋轉(zhuǎn)的縱深剖析,利用旋轉(zhuǎn)來(lái)降低樣品在一個(gè)固定位置上的擇優(yōu)濺射,以?xún)?yōu)化縱深分析。
PHI SmartSoft用戶(hù)界面:PHI SmartSoft是一個(gè)被認(rèn)同為方便用者使用的操作儀器軟件。軟件透過(guò)任務(wù)導(dǎo)向和卷標(biāo)橫跨頂部的顯示指導(dǎo)用戶(hù)從輸入樣品,定義分析點(diǎn),并設(shè)定分析。多個(gè)分析點(diǎn)的定義和樣品的定位是由一個(gè)強(qiáng)大的“自動(dòng)Z軸定位”功能所提供。預(yù)存多樣的操作設(shè)定,可讓新手能夠快速,方便使用。
可選用配備:
熱/冷樣品座
樣品真空傳送管(Sample Transfer vessel)