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PHI Quantera II X射線光電子能譜儀

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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱上海禹重實(shí)業(yè)有限公司
品牌
型號
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時間2021/8/1 14:41:54
訪問次數(shù)334

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公司介紹主營產(chǎn)品

上海禹重實(shí)業(yè)有限公司（以下簡稱禹重科技®）是一家以服務(wù)introduce中國市場為主的進(jìn)口儀器貿(mào)易和檢測技術(shù)服務(wù)公司，下設(shè)三個事業(yè)部和一個中心，即分析儀器事業(yè)部、實(shí)驗(yàn)室服務(wù)事業(yè)部、項(xiàng)目開發(fā)部、以及中禹聯(lián)重檢測技術(shù)中心。目前除上海總部外，我們已建立北京、沈陽、太原、長沙、廣州、青島和成都等分支機(jī)構(gòu)。為客戶提供更專業(yè)、更安全、更便捷的產(chǎn)品和服務(wù)是我們禹重科技®的目標(biāo)。

禹重科技®作為Thermo Science（賽默飛）、DIONEX（戴安）、Gilson（吉爾森）和Tekmar（泰克瑪）等品牌的核心代理商，依托（香港）亞測科技有限公司（Amicrotest Technology Limited），我們將分析測試前沿技術(shù)和產(chǎn)品帶給國內(nèi)客戶，為眾多企業(yè)和高校、科研院所以及政府機(jī)構(gòu)的產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量控制、合規(guī)運(yùn)營，提供成分分析儀器、表面分析儀器、自動化樣品前處理儀器和物理力學(xué)儀器等綜合性儀器解決方案，同時提供儀器配套設(shè)備和標(biāo)準(zhǔn)樣品耗材的銷售，材料測試等實(shí)驗(yàn)室服務(wù)。

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成分分析儀，表面分析儀，光譜儀

產(chǎn)品簡介在線詢價

PHI Quantera II X射線光電子能譜儀是Ulvac-Phi公司以在業(yè)界獲得非常成績的Quantum 2000和Quantera SXM之上延申后所研發(fā)的XPS分析儀器，其革命性超卓技術(shù)包括有：一個*微集中掃描的X射線來源，的雙光束的電荷中和技術(shù)，在極低電壓下仍可保持高性能的離子束源以進(jìn)行XPS的深度分析

PHI Quantera II X射線光電子能譜儀產(chǎn)品信息

PHI Quantera II X射線光電子能譜儀是Ulvac-Phi公司以在業(yè)界獲得非常成績的Quantum 2000和Quantera SXM之上延申后所研發(fā)的XPS分析儀器，其革命性超卓技術(shù)包括有：一個*微集中掃描的X射線來源，的雙光束的電荷中和技術(shù)，在極低電壓下仍可保持高性能的離子束源以進(jìn)行XPS的深度分析，一個五軸精密的樣品臺和負(fù)責(zé)全自動樣品傳送的機(jī)械手臂，與及一個*自動化且可支持互聯(lián)網(wǎng)遠(yuǎn)程控制的儀器操作平臺。
PHI Quantera II X射線光電子能譜儀增加了這些革命性的技術(shù)性能和生產(chǎn)力，再一次提供了zui高性能的XPS系統(tǒng)，以滿足您當(dāng)前和未來的XPS需要。
優(yōu)點(diǎn)：
容易使用：無論您是在分析一個薄膜樣品、有機(jī)聚合物、一個大的塑料鏡片，不銹鋼刀片又或是焊錫球;所有的儀器設(shè)置和設(shè)定都是*相同的。用者只需用鼠標(biāo)點(diǎn)在一個光學(xué)圖像單擊選擇一個或多個分析地區(qū)，加上雙光束中和系統(tǒng)和自動Z-軸高度調(diào)整功能，就可以透過儀器軟件的自動隊(duì)列執(zhí)行所有分析。整個操作流程不需要任何的設(shè)定調(diào)整，不用因不一樣樣品成份而有任何顧慮，甚至也不需要有操作員整天待在儀器旁邊；一切的操作都可以自動的完成。
薄膜分析：Quantera II 不僅提供了無機(jī)薄膜樣本良好的深度剖面分析性能，而且也可以在利用C60離子槍對有機(jī)薄膜得出非常*的深度分析結(jié)果。
掃描：PHI使用了*的聚焦掃描X射線源，使XPS微區(qū)分析變得更高效。如圖4所示，X射線源是經(jīng)由聚焦電子光柵掃描并撞擊在鋁陽極上所產(chǎn)生的，而此產(chǎn)生的聚焦鋁X射線會再透過橢球形狀的單色器反射在樣品表面上。當(dāng)電子束掃描在鋁陽極上時，所產(chǎn)生的X射線束在樣品上也會作出同步的掃描。X射線束的直徑大小可調(diào)范圍為7.5微米以下到400微米以上。
微區(qū)光譜：在光學(xué)顯微鏡，在這透明的聚合物薄膜表面上是沒有發(fā)現(xiàn)任何污染物的。但是如以下圖５中所示，使用二次電子影像時就立即顯示了在聚合物表面上的化污染物的存在。在短短幾分鐘內(nèi)，Quantera II儀器就可以利用一個直徑為20微米的X射線束得到確定的氟碳污染物。