熱臺偏光顯微鏡XPM-500RT

一、儀器用途

偏光熱臺顯微鏡系統(tǒng)（偏光熔點測定儀）是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化纖、半導體工業(yè)以及藥品檢驗等部門和相關(guān)高等院校高分子等專業(yè)常用的實驗儀器。偏光熔點測定儀可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。偏光熔點測定儀采用微電腦檢測，有自動P、I、D調(diào)節(jié)，及模糊手動調(diào)節(jié)功能，偏光熔點測定儀通過LED顯示溫度值及設定溫度值，儀表顯示準確、清晰、穩(wěn)定，對溫度控制可設定程序，設有“上、下”限自動報警裝置，并可隨時檢查設定的溫度數(shù)據(jù)，是新一代熔點測溫、控溫裝置。顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件。偏光顯微鏡熱臺具有可擴展性，可以接計算機和數(shù)碼相機，對圖片進行編輯、保存和打印。偏光熔點測定儀是一組具有較完備功能的新型產(chǎn)品。

二、系統(tǒng)簡介

熱臺偏光顯微鏡（偏光熔點測定儀）系統(tǒng)是將光學顯微鏡技術(shù)、光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、計算機圖像處理技術(shù)結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項產(chǎn)品?？梢栽陲@示屏上很方便地觀察實時動態(tài)圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。

三、偏光熱臺簡介

精密溫控加熱臺是為材料學、生物化學、冶金學、有機化學、高分子及納米材料學而研制。與光學或電子顯微鏡配合使用，在微觀上觀察其溶化、升華、結(jié)晶過程中的狀態(tài)和各種變化和。該儀器采用人性化“傻瓜”設計，自動化程度高，操作簡單，技術(shù)*，性能優(yōu)良，結(jié)構(gòu)新穎可靠。

加熱臺由精密溫度控制儀和載物恒溫工作臺二部分組成，二者由一5芯線纜插口連接， 載物恒溫工作臺置于光學或電子顯微鏡載物臺上。特別適用配合偏光顯微鏡構(gòu)成偏光熔點測量系統(tǒng)。

儀器特點：

●精密溫度控制儀顯示窗口由上下二排四組數(shù)子及文字（英文）組成。上排 ：測量顯示組，下排 ：設定顯示組

●在任何情況下均可根據(jù)需要隨時改變溫度設定。

●時間溫度曲線為一理想直線,調(diào)整升溫速度時只改變其斜率。

●即刻恒溫，在升溫過程中的任意時刻按下此扭后,系統(tǒng)立即自動停止升溫，并恒溫在按下此扭時的即刻溫度上。

高精度偏光熱臺(WRX-1S)參數(shù)

①恒溫范圍：室溫---400℃, 恒溫精度：全范圍≤±0.5℅, 恒溫系統(tǒng)波動度：±1℃

②溫度速度：可設置升溫速度范圍(可調(diào))：0.5---36秒/℃

升溫速度：室溫---100℃≤40秒; 升溫速度達36秒/℃,達400℃時間：240分鐘

即刻恒溫響應時間：≤0.01秒

③熱臺尺寸: 厚度:12mm; 大小:Φ110mm; 高溫區(qū): Φ30mm, 通光孔: Φ4mm

④熱臺的外體與高溫度采用三根陶瓷分開隔熱;在中心溫度400℃,室溫25℃時,熱臺外

體溫度≤70℃,熱臺載物重量：200克

⑤熱臺傳感器:高精度的雙傳感器,連接熱臺與溫控儀

四、系統(tǒng)組成

電腦型偏光熱臺（XPM-500RTC）：1、偏光顯微鏡 2、熱臺 3.攝像器(CCD)4、計算機

數(shù)碼型偏光熱臺（XPM-500RTD）：1、偏光顯微鏡 2、熱臺 3、數(shù)碼相機系統(tǒng)

偏光顯微鏡標準配置（熱臺可搭配無陌光學任意一款偏光顯微鏡 ）