半導體激光器所發(fā)出的激光具有一定的發(fā)散角,直接照射探測器,不能獲得準確的功率值。CPLD150激光光譜功率測試系統(tǒng),使半導體激光器發(fā)出的激光在積分球內(nèi)形成均勻的光強分布,由光功率計和光纖光譜儀分別測量波長和功率,通過專業(yè)的軟件輸出測量結(jié)果。測量波長范圍200-1100nm,分辨率0.1-1nm,功率范圍:100nW-10W。
產(chǎn)品特點:
● 專用軟件可以一鍵獲取光譜及光功率數(shù)據(jù)
應(yīng)用:
半導體激光器光譜和功率測量
產(chǎn)品組成:
1.積分球
創(chuàng)譜儀器提供的CPISA150積分球為全鋁殼體,內(nèi)球徑為150mm。激光器處于積分球的頂部,與探測器和SAM905適配器成90°分布。光纖光譜儀通過光纖連接積分球SMA905適配器。
● 涂層損傷閾值10W/cm2
2.光功率計:
創(chuàng)譜儀器CPM07系列手持式光功率計,外形適中,配備了大尺寸的LCD段碼顯示屏,也可以通過USB2.0接口與計算機實時通訊,支持雙路采集模式。創(chuàng)譜儀器也提供多種光電探測器選擇,波長范圍200nm-1100nm,功率范圍100pW-10mW。
3.光纖光譜儀
創(chuàng)譜儀器提供的光纖光譜儀,體積只有名片大小,分辨率高達0.35nm-1nm,而66系列光譜儀分辨率高達0.1nm。兩個系列的光譜儀都提供波長響應(yīng)范圍分為200nm-1000nm和300nm-1100nm的探測器供用戶選擇。
4.其余光電元器件,歡迎!