高精度薄膜測厚儀

高精度薄膜測厚儀

高精度薄膜測厚儀應用范圍

適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

高精度薄膜測厚儀主要特點

接觸式測量原理

進口測厚傳感器

觸摸屏操作

扁平化人機交互界面顯示

真彩色液晶顯示試驗數據、結果

手動、循環(huán)、預約定時多種測量模式

測試過程全自動完成

內嵌平均值、標準差數據統(tǒng)計分析功能

本機內置歷史數據查詢功能

配置微型打印機，可自動打印單次、統(tǒng)計報告

配置標準通信接口

可支持DSM實驗室數據管理系統(tǒng)，實現數據統(tǒng)一管理（選購）

高精度薄膜測厚儀技術指標

測量范圍：0～2mm（標配）

0～10mm（可選）

分 辨 率：0.1μm

測量速度：1~25次/min（可調）

測 量  頭：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（標配）

紙      張：200mm2，50±1kPa（可選）

電      源：AC 220V 50Hz

外形尺寸：330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)

凈      重：38kg

高精度薄膜測厚儀執(zhí)行標準

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

高精度薄膜測厚儀產品配置

主機、薄膜測量頭、微型打印機、標準量塊一件

注：產品技術規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER思克保留修改權與解釋權！