日立掃描電鏡
日立TM4000Ⅱ掃描電鏡*的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀(guān)察。 TM4000Ⅱ優(yōu)化提供5kV、10kV、15kV、20KV四種不同電壓下的觀(guān)察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測(cè)器,可采集四個(gè)不同方向的圖像信息,對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的SEM-MAP導(dǎo)航功能,同時(shí),電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉(cāng),可容納*樣品直徑80mm,厚度50mm。
TM4000PlusⅡ是在TM4000Ⅱ基礎(chǔ)上增加高靈敏度低真空二次電子探頭UVD,該探頭在低真空環(huán)境下具有很好的成像質(zhì)量。TM4000PlusⅡ可將二次電子圖像和背散射電子圖像疊加并實(shí)時(shí)進(jìn)行顯示,獲得*多的樣品信息。TM4000PlusⅡ可以選配Multi Zigzag功能,可實(shí)現(xiàn)大范圍自動(dòng)連續(xù)拍照和自動(dòng)拼圖功能。
日立掃描電鏡
主要參數(shù):
1. 觀(guān)察條件:5kV/10kV/15kV/20kV(均四檔可調(diào))、EDX
2. 放大倍率:10×~100000×
3. 觀(guān)察模式:導(dǎo)體、標(biāo)準(zhǔn)模式,消除電荷模式
4. 探測(cè)器:4分割背散射探測(cè)器、低真空二次電子探測(cè)器(TM4000Plus)
應(yīng)用領(lǐng)域:生命科學(xué)、材料科學(xué)、化學(xué)、電子制造、食品工業(yè)