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進(jìn)口霍爾效應(yīng)測試儀 HEMS 電子顯微鏡

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱伯東企業(yè)(上海)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
  • 更新時間2023/9/30 9:39:31
  • 訪問次數(shù)732
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  伯東企業(yè)(上海)有限公司 專業(yè)代理各國真空產(chǎn)品位于中國上海浦東外高橋保稅區(qū)的伯東企業(yè)(上海)有限公司創(chuàng)建于1995年12月,是日本伯東株式會社獨資設(shè)立的外商投資企業(yè),公司注冊資金為200萬美元,到目前為止公司從業(yè)員工有400多人。
 
  伯東企業(yè)(上海)有限公司 ()專業(yè)銷售及維修德國Pfeiffer單雙級旋片泵,干泵,羅茨泵,分子泵;應(yīng)用于各種條件下的真空測量(真空計, 真空規(guī)管);檢漏儀,質(zhì)譜儀,真空系統(tǒng)等等, 維修技術(shù)力量雄厚,保證 100 % 擁有標(biāo)準(zhǔn)的德國Pfeiffer原廠測試設(shè)備及調(diào)整工具和德國Pfeiffer專業(yè)培訓(xùn)工程師,多年來致力于真空系統(tǒng)的安裝、調(diào)試、維修、拆機、保養(yǎng)等,具有優(yōu)良的專業(yè)技能和服務(wù)意識,并獲得原廠*維修資質(zhì)證書。利用 Pfeiffer 進(jìn)口檢測設(shè)備對維修后的產(chǎn)品做*性能測試。另外公司還代理美國Brooks  CTI Cryopump 冷凝泵/低溫泵, Polycold 冷凍機和美國KRI 離子源,HVA 高真空閥門。
 
  公司一直堅持品質(zhì)*、信譽*的原則,為廣大客戶提供了高品質(zhì)的產(chǎn)品以及良好的售后服務(wù)。到目前為止已先后通過了美國UL安全認(rèn)證、ISO9001-2000質(zhì)量體系認(rèn)證、ISO14001-1996環(huán)境體系認(rèn)證。公司將在今后的發(fā)展中秉承以人為本,不斷開拓進(jìn)取的精神,為滿足客戶的需求努力向?qū)I(yè)化、優(yōu)質(zhì)化、集團化發(fā)展。
原子力顯微鏡,霍爾效應(yīng)測量儀,質(zhì)譜分析儀,檢漏儀
進(jìn)口霍爾效應(yīng)測試儀 HEMS, 上海伯東英國 NanoMagnetics 儀器 HEMS 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng), 多樣品實驗, 非常適合材料研究等應(yīng)用
進(jìn)口霍爾效應(yīng)測試儀 HEMS 電子顯微鏡 產(chǎn)品信息

價格電議
HEMS 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)
上海伯東英國 NanoMagnetics 儀器 HEMS 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng), 多樣品實驗, 非常適合材料研究等應(yīng)用.

HEMS 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)特點
多樣品實驗, van der Pauw 4接觸點 ; Hall Bar 6接觸點
廣泛的材料: GaAs, lnP, lnAs, Si, Ge, SiGe, HgCdTe, GaN, SiC, AIN, 金屬氧化物和有機導(dǎo)體
非常適合于材料研究, 產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量控制
樣品電阻率, 電阻率, 霍爾系數(shù), 霍爾遷移率, 載流子濃度或電流電壓特性
Windows 操作系統(tǒng)用于系統(tǒng)操作, 數(shù)據(jù)采集和分析

HEMS  霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)可以測量
移動測量
載流子測量
電阻率測量
Van der Pauw 測量
Hall Bar 測量

HEMS  霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)極帽
可調(diào)極帽
25mm 面鉆
連續(xù)可調(diào) 0-1, 30mm 的極隙
可選 50mm, 75mm 更大的鉆心

電磁鐵:
±2.ST@ I 0mm 間隙與 25mm 桿面
±35V, ±70A 線圈
磁場 > ±IT @ 25mm 極隙
磁場強度高, 磁極間距大
串聯(lián)線圈電阻: 0.5 0 ( 20℃ )
水冷

HEMS  霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)樣品臺:
彈簧加載設(shè)計選項
Van der Pauw 設(shè)計測量
四、六、八觸點廳桿測量設(shè)計
容易安裝樣品與彈簧銷
多個樣品安裝
 

英國 NanoMagnetics 儀器 1998年在牛津成立, 作為原子力顯微鏡 AFM 制造商, 主營環(huán)境掃描探針顯微鏡, 低溫掃描探針顯微鏡, 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)等, 原子力顯微鏡適用于產(chǎn)品表面特征分析, 生命科學(xué), 原位成像, 材料科學(xué), 薄膜等領(lǐng)域. 原子力顯微鏡 AFM 廣泛應(yīng)用于牛津大學(xué), 斯坦福, 京都大學(xué), NASA 等學(xué)府和科研院所.

關(guān)鍵詞:顯微鏡
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