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SMT*檢測(cè)儀

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱(chēng)深圳市華科智源科技有限公司
品牌
型號(hào)HUSTEC-580
所在地深圳市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2019/11/27 19:04:39
訪問(wèn)次數(shù)417

產(chǎn)品標(biāo)簽:

*測(cè)試儀 *檢測(cè)儀首板檢測(cè)SMT*測(cè)試 *測(cè)試

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

深圳市華科智源科技有限公司，是一家專(zhuān)業(yè)從事功率半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)自主研發(fā)制造與綜合測(cè)試分析服務(wù)的*，坐落于改革開(kāi)放之都-中國(guó)深圳，核心業(yè)務(wù)為半導(dǎo)體功率器件智能檢測(cè)準(zhǔn)備研制生產(chǎn)，公司產(chǎn)品主要涉及SMT*檢測(cè)儀，MOS管直流參數(shù)測(cè)試儀，MOS管動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀，IGBT動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀，在線式檢修用IGBT測(cè)試儀，變頻器檢修用IGBT測(cè)試儀，IGBT模塊測(cè)試儀，軌道交通檢修用IGBT測(cè)試儀，風(fēng)力發(fā)電檢修用IGBT測(cè)試儀，產(chǎn)品以高度集成化、智能化、高速高精度、超寬測(cè)試范圍等競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)，將廣泛應(yīng)用于IDM廠商、器件設(shè)計(jì)、制造、封裝廠商及高校研究所等；
華夏神州，科技興國(guó)，智能創(chuàng)新，源遠(yuǎn)流長(zhǎng)；華科智源公司核心團(tuán)隊(duì)由華中科技大學(xué)等國(guó)內(nèi)高校研究所、行業(yè)應(yīng)用專(zhuān)家等技術(shù)人才組建，致力于中國(guó)功率半導(dǎo)體事業(yè)，積極響應(yīng)國(guó)家提出的中國(guó)制造2025戰(zhàn)略，投身于半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備。
深圳華科智源科技有限公司-，功率器件測(cè)試方案供應(yīng)商，2025中國(guó)制造 • 芯片設(shè)計(jì)及封裝 • 新能源及軌道交通 • 來(lái)料選型。

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首件檢測(cè)儀,首件檢測(cè)系統(tǒng)，SMT智能首件檢測(cè)儀，首樣檢測(cè)，首板確認(rèn)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢(xún)價(jià)

SMT*檢測(cè)儀HUSTEC-580 采用*的人工智能系統(tǒng)，方便快捷、準(zhǔn)確可靠地進(jìn)行*檢測(cè)，有效杜絕人為錯(cuò)漏，檢查效率提升80%，SMT*檢測(cè)儀-華科智源*測(cè)試儀價(jià)格好。

SMT*檢測(cè)儀產(chǎn)品信息

華科智源*檢測(cè)儀的設(shè)計(jì)理念 SMT*檢測(cè)儀-華科智源*測(cè)試儀價(jià)格

　　傳統(tǒng)的SMT*檢測(cè)方式，不僅浪費(fèi)人力，效率低下，而且整個(gè)檢測(cè)過(guò)程缺乏管控，品質(zhì)得不到保證。針對(duì)此難題，華科智源的SMT智能檢測(cè)系統(tǒng)HUSTEC-580。華科智源SMT智能*檢測(cè)系統(tǒng)，在SMT*檢查、*確認(rèn)領(lǐng)域，有著的技術(shù)優(yōu)勢(shì)。

華科智源*檢測(cè)儀的功能亮點(diǎn)：SMT*檢測(cè)儀-華科智源*測(cè)試儀價(jià)格

　　1.可使用設(shè)備自帶掃描設(shè)備獲取PCBA高清圖形

　　2.元件檢測(cè)順序可由軟件自動(dòng)跳轉(zhuǎn)也可以人工控制

　　3.可按元件類(lèi)別檢測(cè)或某規(guī)格元件進(jìn)行檢測(cè)

　　4.檢測(cè)PASS和FAIL均有聲光報(bào)警提示

　　5.可按元件類(lèi)別檢測(cè)或某規(guī)格元件進(jìn)行檢測(cè)

　　6.標(biāo)準(zhǔn)圖（或位置圖）與PCBA實(shí)例圖同步放大顯示，*拋棄紙質(zhì)位置圖

　　7.全自動(dòng)判斷測(cè)試結(jié)果，測(cè)試通過(guò)后，自動(dòng)跳下一零件，并給出相應(yīng)提示音，無(wú)需人工操作

　　8.檢測(cè)數(shù)、漏測(cè)數(shù)、PASS數(shù)、FAIL數(shù)等統(tǒng)計(jì)信息實(shí)時(shí)顯示，杜絕漏測(cè)現(xiàn)象發(fā)生

　　9.更加便捷的人工判定及不良原因記錄方式

　　10.更加方便的元件查找、定位方式

　　11.更加快速的圖像定位、旋轉(zhuǎn)、放大、縮小