常用的測量鍍鋁膜鋁層厚度測方法有三種,分別是光密度法、表面方塊電阻測量、第三種方法是目測估計法。我們今天主要介紹的是表面方塊電阻測量發(fā)。此法測試所用的儀器是電阻法鍍鋁薄膜厚度測試儀DMT-E。
電阻法鍍鋁薄膜厚度測試儀DMT-E也叫金屬鍍層測厚儀,是濟南三泉中石實驗儀器有限公司生產(chǎn)的,適用于各種鍍鋁薄膜、鍍鋁紙測試電阻值、均勻度、厚度值的測試。
金屬鍍層測厚儀符合GB/T 15717-1995 真空金屬鍍層厚度測試方法電阻法 標準要求,可檢測厚度50-570埃的鍍鋁層厚度,0.5-5Ω的方塊電阻測量范圍,±1%的方塊電阻測量誤差,用于各種鍍鋁薄膜表面鍍鋁層的電阻值、均勻度、厚度值的檢測。
儀器技術(shù)參數(shù);
厚度測量范圍:厚度50-570埃
方塊電阻測量范圍:0.5-5Ω
方塊電阻測量誤差:±1%
樣品尺寸:100×100mm
夾樣誤差:±0.1mm
測溫范圍:0~50℃,精度±1℃
外形尺寸:370mm×330mm×450mm (長寬高)
重量:19kg
工作溫度:23℃±2℃
相對濕度:80%,無凝露
工作電源:220V 50Hz
濟南三泉中石實驗儀器有限公司是專業(yè)的藥包材檢測儀器廠家,尋找金屬鍍層測厚儀、CPP真空鍍鋁膜測厚儀、滿足GB/T 15717金屬鍍層厚度儀請致電三泉中石銷售部。