SOC400T 便攜式FTIR測量儀

SOC400T 便攜式FTIR測量儀采用便攜、手持式設(shè)計(jì),  可以現(xiàn)場測量材料表面的定向反射率并計(jì)算定向熱發(fā)射率。
    SOC400T FTIR具有一個2π光學(xué)系統(tǒng)的FTIR，采用前置光學(xué)設(shè)計(jì)，操作簡單，內(nèi)置標(biāo)定?？商鎿Q已停產(chǎn)的Gier Dunkle DB-100紅外反射計(jì)，波長范圍為2-25微米，光譜分辨率可設(shè)置，測量近法向、總的定向反射率；SOC400T FTIR軟件基于Windows XP操作系統(tǒng)，可以計(jì)算不同溫度下的定向發(fā)射率。
     SOC400T FTIR便攜式FTIR光譜儀榮獲NASA技術(shù)創(chuàng)新證書，可以用作現(xiàn)場和實(shí)驗(yàn)室快速測量高精度材料光學(xué)參數(shù)，適用于平面或彎曲的樣品表面。

    SOC400T FTIR測量紅外光譜總反射率，光譜反射數(shù)據(jù)能為材料表面化學(xué)成份、質(zhì)量控制、工業(yè)衛(wèi)生、定量分析、硬塑料回收、涂層鑒定等提供依據(jù)。
     SOC400T FTIR測量快速、使用簡便，測量時只需對準(zhǔn)樣品，SOC400T FTIR內(nèi)置軟件可自動實(shí)現(xiàn)標(biāo)定、測量、計(jì)算和保存結(jié)果。

SOC400T FTIR優(yōu)點(diǎn)： 
♦　和NASA合作開發(fā)，并榮獲NASA技術(shù)創(chuàng)新證書
♦　可手持操作或三腳架固定操作
♦　樣品小可至0.5”
  
應(yīng)用領(lǐng)域：
♦　材料基本特征測量
♦　輻射熱傳輸：

- 冷卻空間- 能量守恒

- 輻射爐處理
♦　輻射遙感地面真實(shí)提供光譜驗(yàn)證：
-  地質(zhì)應(yīng)用
- 軍事領(lǐng)域
- 環(huán)境領(lǐng)域      
 
SOC400T 便攜式FTIR測量儀技術(shù)參數(shù)
測量結(jié)果：近法線光譜反射率
計(jì)算結(jié)果：溫度函數(shù)的總定向發(fā)射率
波長范圍：2.0~25 µm, 5000~400 cm-1
掃描設(shè)備FTIR：邁克遜干涉儀
掃描時間：可設(shè)置
光譜分辨率：2, 4, 8, 16, 32 cm-1
光源：1650 K灰體
重量：23 lbs.
尺寸：10” H, 9” W, 14” D
樣品尺寸：直徑≥0.5”
標(biāo)定：內(nèi)置自動標(biāo)定
電源：100 V AC or 12 V DC