鍍層測(cè)厚儀CMI900系列,鍍層膜厚儀,X射線熒光測(cè)厚儀

應(yīng)用

CMI900X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測(cè)量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測(cè)量  ，從質(zhì)

量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。

行業(yè)

用于電子元器件，半導(dǎo)體，PCB，LED支架，五金電鍍，連接器等……多個(gè)行業(yè)表面鍍層厚度的測(cè)量。

技術(shù)參數(shù)

主要規(guī)格                           規(guī)格描述
 
X射線激發(fā)系統(tǒng)                   垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)
 
                                       空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
 
                                       標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
 
                                       功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標(biāo)準(zhǔn)

                                        75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選
 
                                       裝備有安全防射線光閘
 
                                       二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選
 
準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)            zui多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器
 
                                       多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選：

                                       －圓形，如4、6、8、12、20 mil等

                                       －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

測(cè)量斑點(diǎn)尺寸                     在12.7mm聚焦距離時(shí)，zui小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器)
 
                                       在12.7mm聚焦距離時(shí)，zui大測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)
 
樣品室

－樣品室結(jié)構(gòu)                      開(kāi)槽式樣品室
 
－zui大樣品臺(tái)尺寸                610mm x 610mm
 
－XY軸程控移動(dòng)范圍            標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm
                                        還有5種規(guī)格任選
 
－Z軸程控移動(dòng)高度               43.18mm
 
－XYZ三軸控制方式              多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制
 
－樣品觀察系統(tǒng)                    高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。（50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。）

                                          激光自動(dòng)對(duì)焦功能

                                         可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
 
計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置                    IBM計(jì)算機(jī)

                                         惠普或愛(ài)普生或佳能彩色噴墨打印機(jī)
 
分析應(yīng)用軟件                       操作系統(tǒng)：WindowsXP(OEM)中文平臺(tái)

分析軟件包：                       SmartLink FP軟件包
 
－測(cè)厚范圍                          可測(cè)定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用。
 
－基本分析功能                   采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。
 
樣品種類：                          鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
 
                                         可檢測(cè)元素范圍：Ti22 – U92
 
                                         可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素校正
 
                                         貴金屬檢測(cè)，如Au karat評(píng)價(jià)
 
                                         材料和合金元素分析，
 
                                         材料鑒別和分類檢測(cè)
 
                                         液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
 
                                         多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較
 
                                         元素光譜定性分析
 
－調(diào)整和校正功能                 系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能，自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移
 
－測(cè)量自動(dòng)化功能                 鼠標(biāo)激活測(cè)量模式：“Point and Shoot”
 
                                         多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量模式：隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重復(fù)測(cè)量模式
 
                                         測(cè)量位置預(yù)覽功能
 
                                         激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能
 
－樣品臺(tái)程控功能                 設(shè)定測(cè)量點(diǎn)
 
                                         連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量
 
                                         測(cè)量位置預(yù)覽
 
－統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能                    平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、

                                         數(shù)據(jù)編號(hào)、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
 
                                         數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖
 
                                         數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)功能
 
                                         任選軟件：統(tǒng)計(jì)報(bào)告編輯器允許用戶自定義多媒體報(bào)告書
 
－系統(tǒng)安全監(jiān)測(cè)功能              Z軸保護(hù)傳感器
 
                                         樣品室門開(kāi)閉傳感器
 

●精度高、穩(wěn)定性好

●強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能

●測(cè)量范圍寬

●NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片

●服務(wù)及支持

生產(chǎn)廠商:牛津儀器