詳細(xì)介紹
微束XRF涂層厚度和材料分析儀,方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗(yàn)證測試,在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法,提供易于使用、快速和無損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。
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更新時(shí)間:2021-07-15 21:47:26瀏覽次數(shù):359
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