詳細(xì)介紹
MarSurf XR 20的表面測(cè)量?jī)x器,使粗糙度和波紋度測(cè)量更加容易。是Mahr積累數(shù)十年計(jì)量學(xué)研究經(jīng)驗(yàn),結(jié)合未來(lái)發(fā)展而產(chǎn)生的測(cè)量設(shè)備。
●可提供依據(jù)ISO/JIS/ASME or MOTIF(ISO 12085)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量R,P和W輪廓的超過(guò)100種參數(shù)
●監(jiān)控公差和所有參數(shù)統(tǒng)計(jì)分析
●可快速編程
●可自動(dòng)選擇符合標(biāo)準(zhǔn)的過(guò)濾方式和取樣長(zhǎng)度()
●支持不同Ra或Rz的評(píng)定方法(靜態(tài)/動(dòng)態(tài))
●多種配置滿足不同應(yīng)用要求