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蔡司MultiSEM高速掃描電子顯微鏡

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更新時間:2021-07-15 18:56:50瀏覽次數(shù):299

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產(chǎn)品簡介

蔡司開啟電子顯微鏡速度的革新時代  借助 MultiSEM 顯微鏡,您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度。現(xiàn)如今,您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯

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商品詳情

    蔡司開啟電子顯微鏡速度的革新時代

  借助 MultiSEM 顯微鏡,您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度?,F(xiàn)如今,您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡(SEM)專為 7 x 24 小時的連續(xù)、可靠運行而設計。只需簡單設置高性能數(shù)據(jù)采集流程,MultiSEM 便能夠獨立地自動完成高襯度圖像采集。

  使用成熟的 ZEN 成像軟件控制 MultiSEM:您可以直觀靈活地管理這款高性能掃描電子顯微鏡的所有功能選項。

  以*速度和納米分辨率采集圖像

  91 條電子束同時工作,擁有出色的成像速度。

  在幾分鐘內(nèi)對1 mm2的區(qū)域成像,分辨率高達 4 nm。

  借助經(jīng)優(yōu)化的二次電子探測器,以低信噪比采集高襯度圖像。

  大型樣品的采集和成像

  MultiSEM 配備有一個可容納 10 cm x 10 cm 大小樣品的樣品夾。

  對整個樣品成像并發(fā)現(xiàn)所有細節(jié),助力于科研。

  自動采集方案可實現(xiàn)大面積成像 - 您將獲得精細的納米圖像,且不丟失可見信息。

  ZEN 成像軟件

  使用成熟的ZEN軟件簡便直觀地操控 MultiSEM,該軟件被應用于所有蔡司成像系統(tǒng)

  智能化自動調(diào)節(jié)程序能夠幫助您以高分辨率和高襯度捕獲圖像

  根據(jù)樣品的實際情況,快速輕松地創(chuàng)建復雜的自動采集流程

  MultiSEM的ZEN 軟件可高速進行連續(xù)并行成像

  開放的API軟件接口可提供靈活快速的應用開發(fā)

  對大體積樣品連續(xù)切片斷層掃描的數(shù)據(jù)獲取

  使用ATUMtome 自動切割樹脂包埋生物組織。 一天內(nèi)搜集多達1000個連續(xù)切片。

硅晶片上的固定膠帶

將切片用膠帶固定在硅晶片上并用蔡司的光學顯微鏡成像。使用蔡司的 ZEN 成像軟件以及 Shuttle & Find 功能組件對整體成像。再將硅晶片移至 MultiSEM 電子顯微鏡下,對樣品進行整體預覽并利用 ZEN 軟件用戶界面規(guī)劃整個實驗。

 

  

用圖形化的控制中心設置整個實驗。高效的自動切片檢測可以識別和標注感興趣區(qū)域,節(jié)省大量時間。 

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