ZEISS Sigma場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

   　　ZEISS Sigma系列產(chǎn)品

　　用于高品質(zhì)成像與高級(jí)分析的蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

　　靈活的探測(cè)，4步工作流程，高級(jí)的分析性能

　　將高級(jí)的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測(cè)器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。

　　Sigma 300 性價(jià)比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測(cè)器，可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時(shí)間，任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。

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　　靈活的檢測(cè)器選項(xiàng)，獲取清晰圖像

　　使用新穎的ETSE和Inlens探測(cè)器在高真空下獲取高分辨率表面形貌信息。

　　使用VPSE或C2D檢測(cè)器在可變壓力模式下獲得清晰圖像。

　　使用aSTEM檢測(cè)器生成高分辨率透射圖像。

　　使用HDBSD或YAG檢測(cè)器分析成分。

　　用戶友好,操作簡(jiǎn)單

　　SmartSEM Touch是現(xiàn)已有操作系統(tǒng)的附加組件，用于多用戶環(huán)境，是一種簡(jiǎn)潔的用戶界面。

　　它同時(shí)為操作經(jīng)驗(yàn)豐富的專家用戶和初級(jí)用戶提供了簡(jiǎn)便的操作。

　　基于實(shí)際的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境，SEM的操作可能是電子顯微鏡專家的專屬領(lǐng)域。

　　但是，非專業(yè)用戶(例如學(xué)生，接受培訓(xùn)不久的人員或質(zhì)量工程師)也需要使用SEM獲取數(shù)據(jù)，因此也有使用SEM的需求。 Sigma 300和Sigma 300 VP將非專業(yè)用戶的需求考慮在內(nèi)，其用戶界面選項(xiàng)可滿足操作經(jīng)驗(yàn)豐富的顯微鏡專家和顯微鏡新手用戶的操作需求。

　　特點(diǎn)：

　　用于清晰成像的靈活探測(cè)

　　利用*探測(cè)術(shù)為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品。

　　利用 in-lens 雙探測(cè)器獲取形貌和成份信息。

　　利用新一代的二次探測(cè)器，獲取高達(dá)50%的信號(hào)圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測(cè)器，在低真空環(huán)境下獲取高達(dá)85%對(duì)比度的銳利的圖像。

　　自動(dòng)化加速工作流程

　　4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環(huán)境中，從快速成像和節(jié)省培訓(xùn)首先，先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航，然后設(shè)置成像條件。

　　首先，先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航，然后設(shè)置成像條件。

　　接下來(lái)對(duì)樣品感興趣的區(qū)域進(jìn)行優(yōu)化并自動(dòng)采集圖像。最后使用工作流程的步，將結(jié)果可視化。

　　高級(jí)分析型顯微鏡

　　將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合：Sigma 的背散射幾何探測(cè)器大大提升了分析性能，特別是對(duì)電子束敏感的樣品。

　　在一半的檢測(cè)束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。

　　獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角，獲取完整且無(wú)陰影的分析結(jié)果。