貝克曼標準測試試劑，貝克曼標準測試粉末，貝克曼標準粒子。
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廣州北瑞色譜科技有限公司專業(yè)提供貝克曼各類標準測試試劑。標準粒子等，如您需要的不在本列表，請致電我司查詢。

貝克曼庫爾特粒度分析儀系列

• Multisizer 4e 顆粒/細胞計數及粒度分析儀
• Multisizer 3顆粒/細胞計數及粒度分析儀
• DelsaMax PRO 多角度Zeta電位及納米粒度同步分析儀
• DelsaMax CORE 靜態(tài)分子量與納米粒度同步分析儀
• SA3100比表面積及孔徑分析儀
• LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析儀
• LS 13 320系列全新微納米激光粒度分析儀

粒度分析的基本概念

（1）顆粒：具有一定尺寸和形狀的微小物體，是組成粉體的基本單元。它宏觀很小，但微觀卻包含大量的分子和原子；

（2）粒度：顆粒的大??；

（3）粒度分布：用一定的方法反映出一系列不同粒徑顆粒分別占粉體總量的百分比；

（4）粒度分布的表示方法：表格法（區(qū)間分布和累積分布）、圖形法、函數法，常見的有R-R分布，正態(tài)分布等；

（5）粒徑：顆粒的直徑，一般以微米為單位；

（6）等效粒徑：指當一個顆粒的某一物理特性與同質球形顆粒相同或相近時，我們就用該球形顆粒的直

徑來代表這個實際顆粒的直徑；

（7）D10，累計分布百分數達到10% 所對應的粒徑值；

D50，累計分布百分數達到50%時所對應的粒徑值；又稱中位徑或中值粒徑；

D90，累計分布百分數達到90%時所對應的粒徑值；

D（4,3）體積或質量粒徑平均值；

常用的粒度測量方法

（1）篩分法

（2）沉降法（重力沉降法、離心沉降法）

（3）電阻法（庫爾特顆粒計數器）

（4）顯微鏡（圖像）法

（5）電鏡法

（6）超聲波法

（7）透氣法

（8）激光衍射法

各種方法的優(yōu)缺點

篩分法：優(yōu)點：簡單、直觀、設備造價低、常用于大于40μm的樣品。缺點：不能用于40μm以細的樣品；結果受人為因素和篩孔變形影響較大。

顯微鏡法：優(yōu)點：簡單、直觀、可進行形貌分析。 缺點：速度慢、代表性差，無法測超細顆粒。

沉降法（包括重力沉降和離心沉降）：優(yōu)點：操作簡便，儀器可以連續(xù)運行，價格低，準確性和重復性較好，測試范圍較大。 缺點：測試時間較長。

電阻法：優(yōu)點：操作簡便，可測顆?？倲?，等效概念明確，速度快，準確性好。 缺點：測試范圍較小，小孔容易被顆粒堵塞，介質應具備嚴格的導電特性。

電鏡法：優(yōu)點：適合測試超細顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。 缺點：樣品少、代表性差、儀器價格昂貴。

超聲波法：優(yōu)點：可對高濃度漿料直接測量。 缺點：分辨率較低。

透氣法：優(yōu)點：儀器價格低，不用對樣品進行分散，可測磁性材料粉體。 缺點：只能得到平均粒度值，不能測粒度分布。

激光法：優(yōu)點：操作簡便，測試速度快，測試范圍大，重復性和準確性好，可進行在線測量和干法測量。 缺點：結果受分布模型影響較大