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掃描電子顯微鏡

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  • 型號(hào) Sigma 系列
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更新時(shí)間：2021-07-08 18:12:49瀏覽次數(shù)：458

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：結(jié)合了場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和高級(jí)分析性能，用于顆粒、表面和納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 的4步半自動(dòng)工作流程節(jié)省了大量的工作時(shí)間

詳細(xì)介紹

 

靈活的探測(cè)，4步工作流程，高級(jí)的分析性能

將高級(jí)的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測(cè)器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。


Sigma 300 性?xún)r(jià)比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測(cè)器，可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時(shí)間，任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。

 

 

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