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參考價	面議

詳細介紹

一、儀器的主要用途和特點

　　XPR-300型透射偏光熔點測定儀是地質、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化學纖維、半導體工業(yè)以及藥品檢驗等部門和相關高等院校的高分子等專業(yè)常用的專業(yè)實驗儀器?？晒V大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉化。

　　本系統(tǒng)廣泛應用于高分子材料、聚合物材料等化工領域，適用于研究物體的結晶相態(tài)分析、共混相態(tài)分布、粒子分散性及尺寸測量、結晶動力學的過程記錄分析、液晶分析、織態(tài)結構分析、熔解狀態(tài)記錄觀察分析等多研究方向。

　偏光顯微熔點測定儀XPR-300系統(tǒng)匯集了光電、模式識別、精密加工、圖象學、自動控制、模量學等多研究領域的技術，是多年研究開發(fā)的結果，本儀器具有可擴展性，可以接計算機和數(shù)碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。

二、儀器的主要技術指標

1.顯微鏡技術參數(shù):

名稱	規(guī)格
總放大倍數(shù)：	40X---630X
無應力消色差物鏡	4X/0.1
	10X/0.25
	25X/0.40
	40X/0.65 彈簧
	63X/0.85 彈簧
目鏡	10X 十字目鏡
目鏡	10X 分劃目鏡
試片	石膏 1λ 試片
	云母 1/4λ 試片
	石英楔子試片
測微尺	0.01mm
濾色片	藍色
帶座目鏡網(wǎng)絡尺
移動尺	移動范圍 30mm×40mm
鏡筒	三目觀察

2.熔點儀技術參數(shù):

熱臺組成	性能
顯微精密控溫儀		顯微加熱平臺	可以隨載物臺移動、工作區(qū)加熱面積大、透光區(qū)域可調、工作區(qū)溫度梯度低于± 0.1 · 起始溫度室溫 ·工作區(qū)加熱使用面積至少 1X1厘米 · 工作區(qū)溫度梯度不超過 ± 0.1 · 透光區(qū)域 2mm以上，可調 · 顯示溫度與實際溫度誤差不超過 ± 0.2 · 熱臺可以隨載物臺移動在加熱狀態(tài)可使用 20倍物鏡
注意：熔點測定（溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的物鏡25X、40X的物鏡）

三、系統(tǒng)的擴展性

　 XPR-300C型偏光熔點儀系統(tǒng)是將精密的光學顯微鏡技術、的光電轉換技術、優(yōu)異的計算機成像技術和精密的溫控技術結合在一起而開發(fā)研制成功的一項科技產(chǎn)品?？梢栽谟嬎銠C上很方便地觀察不同溫度下的偏光效果圖像，并對偏光圖譜進行分析,處理,還可輸出或打印偏光圖片。