桌面型高低溫試驗(yàn)箱主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過檢測(cè)，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

桌面型高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)指標(biāo)：

1、溫度范圍：-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃

2、溫度均勻度：≤±2℃  （空載時(shí)）

3、溫度波動(dòng)度：±0.5℃ （空載時(shí)）

4、溫度偏差:≤±2℃

5、降溫速率：0.7～1.2℃/min    

6、升溫速度：1.0～3.0℃/min

7、時(shí)間設(shè)定范圍：0～999 小時(shí)   

8、噪音：＜75dB

滿足標(biāo)準(zhǔn)

1.GB10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

2.GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

3.GB11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

4.GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

5.GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

6.GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

7.GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則