高低溫冷熱沖擊溫循箱目前適用的行業(yè)及產(chǎn)品有光電、LED、顯示器、顯示屏連接器,PCB連接器,F(xiàn)PC,電感器,電子元器件,數(shù)碼產(chǎn)品,太陽(yáng)能組件,光伏組件,光纖,LCD,PCB,F(xiàn)PC,微電子,電機(jī),汽車(chē)燈產(chǎn)品及零部件等大型產(chǎn)品或者大型零部件。從很低到很高的溫度包括中間的任意溫度均可隨意設(shè)定恒溫或者沖擊試驗(yàn)。
制冷低溫區(qū) | 溫度暴露范圍 | 0℃/-65℃ | ||
預(yù)熱溫度下限 | -75℃ | |||
溫度波動(dòng)范圍 | ≤±0.5℃ | |||
溫度降溫時(shí)間 | -75℃≤60min | |||
加熱高溫區(qū) | 溫度暴露范圍 | 60℃~150℃ | ||
預(yù)熱溫度上限 | 200℃ | |||
溫度波動(dòng)范圍 | ≤±0.5℃ | |||
溫度上升時(shí)間 | 室溫200℃≥45min | |||
性能指標(biāo) | 溫度測(cè)試范圍可選 | A:-40℃~150℃ B:-40℃~150℃C:-65℃~150℃ | ||
溫度均勻動(dòng) | 高溫室及低溫室均≤±2℃ | |||
樣品區(qū)承重 | 30kg | 30kg | 30kg | |
溫度運(yùn)行控制系統(tǒng) | 主要控制器 | 日本/韓國(guó)/中國(guó)臺(tái)灣(可選擇)進(jìn)口LED數(shù)顯(P、I、D +S、S、R.)微電腦集成控制器 | ||
精度范圍 | 設(shè)定浮動(dòng)度:溫度±0.2℃,指示精度:溫度±0.1℃,分辨率:0.01℃ | |||
制冷系統(tǒng) | 進(jìn)口德國(guó)比澤爾半封閉水冷式壓縮機(jī)組或原裝法國(guó)“泰康"/全封閉風(fēng)冷壓縮制冷機(jī)組 | |||
循環(huán)系統(tǒng) | 耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī).多葉式離心風(fēng)輪 | |||
溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間 | 從制冷低溫區(qū)到加熱高溫區(qū)或從加熱高溫區(qū)到制冷低溫區(qū)≤10S | |||
溫度恢復(fù)時(shí)間 | ≤5min(冷熱溫度沖擊機(jī)|高低溫溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)的恢復(fù)時(shí)間與暴露溫差、冷卻水溫、恒溫時(shí)間、樣品重量有關(guān)) |
高低溫冷熱沖擊溫循箱本設(shè)備滿(mǎn)足:GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫;GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫;GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則;GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備。