各類探傷儀試塊

CSK-IA探傷儀試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的

主要用途有:

1、利用R100mm曲面測(cè)定斜探頭的 入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度;

2、利用50和1.5mm圓孔測(cè)定 斜探頭的折射角;

3、利用試塊直角棱邊測(cè)定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;

4、利用25mm厚度測(cè)定探傷 儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍;

5、利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測(cè)范圍和掃描速度;

6、利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測(cè)范圍和掃描速度;

7、利用50、44和40mm 三個(gè)臺(tái)階孔測(cè)定斜探頭分辨力。

制作滿足3NB/T 47013-2015要求試塊以及中華人民共和國(guó)*規(guī)定探傷試塊可以根據(jù)要求特出定做，并配有檢定證書。