光譜巖芯掃描儀

光譜巖芯掃描儀光譜巖芯掃描儀鉆芯掃描 鉆芯和鉆屑的測井是礦山開發(fā)和礦物勘探的重要方面之 一。Corescan 的HCI-3 將反射光譜，視覺圖像和 3D 激光輪 廓分析集成到繪制鉆芯，碎石和其他地質(zhì)樣品的礦物學(xué)， 地球化學(xué)和 結(jié)構(gòu)形態(tài)圖。 蝕變礦物和組合及其隨成礦作用變化的方式，為勘探者和 采礦專 業(yè)人士提供了成礦的重要載體。在勘探中，這會(huì) 影響新鉆孔的定 位或限制當(dāng)前鉆孔的進(jìn)度，以節(jié)省寶貴 的勘探費(fèi)用。在采礦中， 跟蹤礦石和脈石，而結(jié)構(gòu)和礦 物學(xué)變量顯示出關(guān)鍵的機(jī)械巖石特 性，從而導(dǎo)致*的冶 金和礦山規(guī)劃。

HCI-3 將頻譜巖心測井提高到了一個(gè)更高的水平，從而為 地質(zhì)學(xué)家，冶金學(xué)家以及勘探和開發(fā)團(tuán)隊(duì)整體提供了快速 可靠的鉆孔數(shù) 字記錄，可以電子方式將其發(fā)送給任何數(shù) 量的地質(zhì)專家或顧問。 需要出現(xiàn)。 HCI-3 通過定量礦物組合，成分和質(zhì)地?cái)?shù)據(jù)補(bǔ)充了地質(zhì)學(xué) 家對(duì)巖心的定性評(píng)估。 HCI-3 概述 HCI-3在450nm至2500nm的VNIR 和SWIR波段工作，光譜分 辨率約為4nm。波長范圍覆蓋了光譜區(qū)域，在其中許多 熱液蝕變礦物表現(xiàn)出光譜吸收特征。 高質(zhì)量的光學(xué)器件可將光譜測量的焦點(diǎn)集中在纖芯上的 0.5mm點(diǎn)處，從而增強(qiáng)信號(hào)并小化光譜混 合。HCI-3的革命性設(shè)計(jì)減少了傳統(tǒng)測量系統(tǒng)固有的頻譜 混合相關(guān)的不確定性，從而在核心的每個(gè)點(diǎn)提供了“近乎 純凈的”頻譜特征。這導(dǎo)致 每米掃描核心約 100,000 個(gè)光譜。 光譜校準(zhǔn)的RGB相機(jī)以60 微米像素大小提供了內(nèi)核的高 分辨率可視記錄。核心表面特征，紋理和形狀的測量使 用3D 激光輪廓儀進(jìn)行補(bǔ)充。該系統(tǒng)包括一個(gè)裝有光學(xué)元 件，光譜儀，照相機(jī)和3D 輪廓傳感器的掃描單元；具有 輸送機(jī)驅(qū)動(dòng)的芯盤裝載系統(tǒng)的平移臺(tái)；以及高速數(shù)據(jù)采 集，處理和控制計(jì)算機(jī)。 HCI-3 操作 裝入每個(gè)托盤后，自動(dòng)托盤識(shí)別系統(tǒng)會(huì)識(shí)別巖心的各 個(gè)部分，并掩蓋不需要的材料，例如巖心托盤和深度 標(biāo)記。深度 然后在掃描前先確認(rèn)各個(gè)核心部分的掃描模式和圖像 分辨率 每種掃描模式下的樣品密度也可能不同，通常在 0.5mm至5.0mm之間。根據(jù)所需的掃描模式，每小時(shí)可 達(dá)到高達(dá)50m的掃描速率。 使用3D 激光輪廓儀同時(shí)測量表面特征為結(jié)構(gòu)地質(zhì)學(xué)家和 冶金學(xué)家都提供了巨大的優(yōu)勢。在未切割的巖心中， 不僅可以在圖像中看到諸如地層，裂縫，裂縫和靜脈 方向等結(jié)構(gòu)特征，而且還可以計(jì)算方向。 HCI-3 的實(shí)時(shí)處理和可視化軟件使地質(zhì)學(xué)家可以在掃描每 個(gè)部分時(shí)查看巖心。然后將巖心的自動(dòng)實(shí)時(shí)解釋分析與 預(yù)定義的礦物學(xué)模型進(jìn)行比較。此外，在高速偵察模 式下掃描的巖心部分可能會(huì)立即重新掃描 在詳細(xì)的分辨率下，應(yīng)該檢測出重要的礦物學(xué)。 HCI-3 System Specification 光譜 3 (VNIR, SWIR-A, SWIR-B) 光譜范圍 450nm to 2500nm 沿著識(shí)別和提取巖心剖面的空間坐標(biāo)記錄巖心 和礦物的可視化 在空間上可以立即克服與傳統(tǒng)方法 相關(guān)的耗時(shí)圖像開銷 方法。核心規(guī)模和 間，即使核心恢復(fù)低于 全內(nèi)核的多種掃描模式快速配置文件 心吞吐量優(yōu)化圖像分辨率 在偵察模式下 沿著核心的中心 吞吐量，同時(shí)仍然提供大量 礦物學(xué)意義，詳細(xì)模式 分析全芯寬度 光譜分辨率 ~4nm 空間分辨率 0.5mm pixels 掃描模式 詳細(xì)全寬掃描 偵察剖面掃描 光譜校準(zhǔn) NIST traceable rare earth reflectance standard 標(biāo)準(zhǔn)反射率 輻射定標(biāo)光譜標(biāo)準(zhǔn)反射，暗電流 RGB圖像分辨率 60um 高度剖面分辨率 15um 芯盤尺寸 Up to 0.6m x 1.5m (W x L) 掃描速率 Up to 1000m per day Depending on operational constraints