詳細(xì)介紹
分立元器件測(cè)試儀
ST-SP 2000_5
可測(cè)試 19大類27分類 大中小功率的 分立器件及模塊的 靜態(tài)直流參數(shù)
(測(cè)試范圍包括 Si/SiC/GaN 材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件)
主極輸出 2000V / 50~1250A,分辨率*高至1mV / 10pA
支持曲線掃描圖示功能
天光測(cè)控-分立元器件測(cè)試儀
♦ 產(chǎn)品應(yīng)用
應(yīng)用領(lǐng)域
高校、半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠商、電源、變頻器、逆變器、變流器、數(shù)控、電焊機(jī)、白色家電、新能源汽車、軌道機(jī)車等所有的半導(dǎo)體器件應(yīng)用產(chǎn)業(yè)鏈 ……
主要用途
⇒ 測(cè)試分析(功率器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的初始測(cè)試)
⇒ 失效分析(對(duì)失效器件進(jìn)行測(cè)試,查找失效機(jī)理。以便于對(duì)電子整機(jī)的整體設(shè)計(jì)和使用過(guò)程提出改善方案 )
⇒ 選型配對(duì)(在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測(cè)試,將測(cè)試數(shù)據(jù)比較*的器件進(jìn)行分類配對(duì))
⇒ 來(lái)料檢驗(yàn)(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對(duì)入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢,把控器件的良品率)
⇒ 產(chǎn)線自動(dòng)化測(cè)試(可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類輔助機(jī)械設(shè)備,實(shí)現(xiàn)規(guī)?;?、自動(dòng)化測(cè)試)
♦ 產(chǎn)品簡(jiǎn)述
產(chǎn)品擴(kuò)展性強(qiáng),通過(guò)選件可以提高電壓、電流和測(cè)試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測(cè)器件的測(cè)試條點(diǎn)擊即可完成測(cè)試任務(wù)。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測(cè)試插座,自動(dòng)補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測(cè)試電纜長(zhǎng)度引起的任何壓降,保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。面板顯示裝置可及時(shí)顯示系統(tǒng)的各種工作狀態(tài)和測(cè)試結(jié)果,前面板的功能按鍵方便了系統(tǒng)操作。通過(guò)功能按鍵,系統(tǒng)可以脫離主控計(jì)算機(jī)獨(dú)立完成多種工作。
曲線追蹤儀(晶體管圖示儀)功能則是利用高速ATE測(cè)試步驟逐點(diǎn)生成曲線,可快速而準(zhǔn)確地生成精確的數(shù)據(jù)點(diǎn)。數(shù)據(jù)增量是可編程的線性或?qū)?shù),典型的每步測(cè)試時(shí)間為6到20ms。一個(gè)兩百條數(shù)據(jù)點(diǎn)曲線通常只需幾秒鐘就能完成。使用該系列跟蹤儀更容易獲取諸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFETRDSvs. VGS 等曲線數(shù)據(jù)。此外, 針對(duì)多條曲線,設(shè)備可以根據(jù)每條曲線的數(shù)據(jù)運(yùn)行并將所獲數(shù)據(jù)自動(dòng)發(fā)送到一個(gè)單獨(dú)的 Excel 工作表。系統(tǒng)能夠更快,更簡(jiǎn)潔的創(chuàng)建曲線(單擊,雙擊,選擇輸入菜單,單擊)。就是這么簡(jiǎn)單。
設(shè)備支持在單個(gè) DUT 上運(yùn)行高達(dá) 10 條不同曲線的能力,在運(yùn)行過(guò)程中,每個(gè)圖表都是可視的,每個(gè)數(shù)據(jù)集都被加載到一個(gè)被命名的 Excel 工作表中。系統(tǒng)運(yùn)行速度快,可進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄,提供更高級(jí)的數(shù)據(jù)工具箱,能夠運(yùn)行多條曲線并自動(dòng)排序,自動(dòng)將數(shù)據(jù)存入 Excel 表格,具有縮放功能,光標(biāo)重新運(yùn)行功能以及其他許多優(yōu)點(diǎn)。
系統(tǒng)提供與機(jī)械手、探針臺(tái)、電腦的連接口,可以支持各種不同輔助設(shè)備的相互連接使用。
♦ 產(chǎn)品特點(diǎn)
Ø測(cè)試范圍廣(19大類,27分類)
Ø升級(jí)擴(kuò)展性強(qiáng),通過(guò)選件可提高電壓電流,和增加測(cè)試品種范圍。支持電壓電流階梯升級(jí)至2000V,1250A
Ø采用脈沖測(cè)試法,脈沖寬度為美軍標(biāo)規(guī)定的300us
Ø被測(cè)器件引腿接觸自動(dòng)判斷功能,遇到器件接觸不良時(shí)系統(tǒng)自動(dòng)停止測(cè)試, 保證被測(cè)器件不受損壞
Ø真正的動(dòng)態(tài)跨導(dǎo)測(cè)試。(主流的直流方法測(cè)動(dòng)態(tài)跨導(dǎo) ,其結(jié)果與器件實(shí)際值偏差很大)
Ø系統(tǒng)故障在線判斷修復(fù)能力,便于應(yīng)急處理排障
Ø二極管極性自動(dòng)判別功能,無(wú)需人工操作
ØIV 曲線顯示 / 局部放大
Ø程序保護(hù)大電流/電壓,以防損壞
Ø品種繁多的曲線
Ø可編程的數(shù)據(jù)點(diǎn)對(duì)應(yīng)
Ø 增加線性或?qū)?shù)
Ø可編程延遲時(shí)間可減少器件發(fā)熱
Ø保存和重新導(dǎo)入入口程序
Ø保存和導(dǎo)入之前捕獲圖象
Ø曲線數(shù)據(jù)直接導(dǎo)入到 EXCEL
Ø曲線程序和數(shù)據(jù)自動(dòng)存入 EXCEL
♦ 測(cè)試能力
序號(hào) | 測(cè)試器件 | 測(cè)試參數(shù) |
01 | IGBT | ICES;IGESF;IGESR;BVCES;VGETH;VCESAT;ICON;VGEON;VF;GFS |
02 | MOSFET / MOS場(chǎng)效應(yīng)管 | IDSS;IDSV;IGSSF; IGSSR;VGSF;VGSR;BVDSS;VGSTH;VDSON、VF(VSD) IDON;VGSON;RDSON;GFS |
03 | J-FET / J型場(chǎng)效應(yīng)管 | IGSS;IDOFF;IDGO;BVDGO;BVGSS;VDSON,VGSON;IDSS;GFS;VGSOFF |
04 | 晶體管(NPN/PNP) | ICBO;ICEO;ICER; ICES; ICEV;IEBO;BVCEO ;BVCBO;BVEBO;HFE;VCESAT;VBESAT;VBE(VBEON);RE;VF |
05 | DIODE / 二極管 | IR;BVR ;VF |
06 | ZENER / 穩(wěn)壓、齊納二極管 | IR;BVZ;VF;ZZ |
07 | DIAC / 雙向觸發(fā)二極管 | VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-, |
08 | OPTO-COUPLER / 光電耦合 | ICOFF、ICBO;IR;BVCEO;BVECO;BVCBO;BVEBO;CTR;HFE;VCESAT; VSAT;VF(Opto-Diode) |
09 | RELAY / 繼電器 | RCOIL;VOPER;VREL;RCONT;OPTIME; RELTIME |
10 | TRIAC / 雙向可控硅 | VD+;VD-;VT+ ; VT-;IGT;VGT ;IL+;IL-;IH+;IH- |
11 | SCR / 可控硅 | IDRM;IRRM;IGKO;VDRM;VRRM;BVGKO;VTM;IGT;VGT;IL;IH |
12 | STS / 硅觸發(fā)可控硅 | IH+; IH-;VSW+ ; VSW-;VPK+ ;VPK-;VGSW+;VGSW- |
13 | DARLINTON / 達(dá)林頓陣列 | ICBO;ICEO;ICER;ICES;ICEX;IEBO;BVCEO;BVCER;BVCEE;BVCES;BVCBO;BVEBO;hFE;VCESAT;VBESAT;VBEON |
14 | REGULATOR / 三端穩(wěn)壓器 | Vout;Iin; |
15 | OPTO-SWITCH / 光電開關(guān) | ICOFF;VD;IGT;VON;ION ;IOFF |
16 | OPTO-LOGIC / 光電邏輯 | IR;VF;VOH;VOL;IFON; IFOFF |
17 | MOV / 金屬氧化物壓變電阻 | ID+ ID-;VN+; VN-;VC+ ;VCLMP-;VVLMP+ ; |
18 | SSOVP / 固態(tài)過(guò)壓保護(hù)器 | ID+ ID-;VCLAMP+, VCLAMP-;VT+、VT-;IH+、IH-;;IBO+ IBO-;VBO+ VBO-;VZ+ VZ- |
19 | VARISTOR / 壓變電阻 | ID+; ID-;VC+ ;VC- |