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工業(yè)級(jí)VCSEL光譜功率積分測(cè)試儀

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  • 工業(yè)級(jí)VCSEL光譜功率積分測(cè)試儀

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  • 型號(hào) LS-VCS940-IND
  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 深圳市

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更新時(shí)間:2020-02-18 14:51:45瀏覽次數(shù):692

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LS-VCS940-IND光譜功率積分測(cè)試儀由萊森光學(xué)專門(mén)針對(duì)VCSEL/LD工作頻率要求不高,不需要進(jìn)行復(fù)雜的LIV、PCE功能測(cè)試分析測(cè)試研發(fā)而成,該系統(tǒng)性價(jià)比高,特別適合于工業(yè)用戶和自動(dòng)化集成廠商。

詳細(xì)介紹

    VCSEL(Vertical Cavity Surface Emitting Laser,垂直共振腔表面放射激光)技術(shù)目前在人臉識(shí)別、3D感測(cè)、汽車自動(dòng)駕駛、手勢(shì)偵測(cè)和VR(虛擬現(xiàn)實(shí))/AR(增強(qiáng)現(xiàn)實(shí))/MR(混合現(xiàn)實(shí))等應(yīng)用領(lǐng)域越來(lái)越受到關(guān)注,萊森光學(xué)®可以為客戶提供VCSEL-3D SENSING/TOF檢測(cè)解決方案:LIV光譜/功率積分測(cè)試、NF近場(chǎng)特性測(cè)試、FF遠(yuǎn)場(chǎng)特性測(cè)試、BRDF/BTDF光學(xué)材料AR/VR特性測(cè)試、VCSEL積分球,實(shí)現(xiàn)對(duì)VCSEL單體、模組、及晶圓芯片的能量分布和均勻性測(cè)量、光譜波長(zhǎng)及功率測(cè)量、近場(chǎng)遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量等各種定制化應(yīng)用需求。

 

 

 

 

 

 

       LS-VCS940-IND光譜功率積分測(cè)試儀由萊森光學(xué)專門(mén)針對(duì)VCSEL/LD工作頻率要求不高,不需要進(jìn)行復(fù)雜的LIV、PCE功能測(cè)試分析測(cè)試研發(fā)而成,該系統(tǒng)性價(jià)比高,特別適合于工業(yè)用戶和自動(dòng)化集成廠商。

 

 

主要技術(shù)特點(diǎn)

● 支持在線集成測(cè)量,支持機(jī)臺(tái)集成商二次開(kāi)發(fā)

● 實(shí)現(xiàn)對(duì)光譜峰值功率、平均功率、光譜峰值波長(zhǎng)、FWHM、占空比等功能的測(cè)量

● 可以設(shè)置采用頻率,PD和光譜儀觸發(fā)同步測(cè)量

● NIST溯源標(biāo)定,功率積分球可選不同規(guī)格:根據(jù)DUT發(fā)散角和功率大小,可選擇2吋、4吋、6吋不同尺寸積分

● 可選配溫度控制模塊,控溫范圍5℃~95℃

 

    LS-VCS940-IND工業(yè)級(jí)LIV光譜功率積分測(cè)試儀主要針對(duì)VCESL/LD和模組的LIV光電特性測(cè)量,根據(jù)VCESL/LD的發(fā)散角和輸出功率要求,可選擇不同規(guī)格的積分球,積分球內(nèi)徑尺寸分為:2吋、4吋、6吋。積分球帶已標(biāo)定功率探頭,由于DUT發(fā)熱量大,溫度對(duì)DUT輸出功率和輸出光譜波長(zhǎng)有很大的影響,因此需要對(duì)樣品控溫,配置溫度控制模塊,控溫范圍5℃~+95℃可選。

 

 

 

主要技術(shù)參數(shù)

 

          型號(hào)                              

  LS-VCS940-IND光譜功率積分測(cè)試儀

功率測(cè)量范圍

50W(更大范圍可選配)

光譜范圍

400-1100nm

光學(xué)分辨率(FMHM

0.1nm823-998nm

積分球

2/4/6

電流采樣速率

250ks/s

PD采樣頻率

1Hz-1000Hz

電流精度

±0.05%

AD轉(zhuǎn)換

16bit: 250k/s

溫度范圍

5-95

控溫精度

±1

控制接口

USB/IO

尺寸/重量

10×30×10cm/2.5kg

 

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