LS-NF-T100近場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)

VCSEL（Vertical Cavity Surface Emitting Laser，垂直共振腔表面放射激光）技術(shù)目前在在人臉識(shí)別、3D感測(cè)、手勢(shì)偵測(cè)和VR（虛擬現(xiàn)實(shí)）/AR（增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)）/MR（混合現(xiàn)實(shí)等應(yīng)用領(lǐng)域越來越受到關(guān)注，萊森光學(xué)®可以為客戶提供VCSELVCSEL-3D SENSING/TOF檢測(cè)解決方案：LIV光譜/功率積分測(cè)試、NF近場(chǎng)特性測(cè)試、FF遠(yuǎn)場(chǎng)特性測(cè)試、BRDF/BTDF

  VCSEL（Vertical Cavity Surface Emitting Laser，垂直共振腔表面放射激光）技術(shù)目前在在人臉識(shí)別、3D感測(cè)、手勢(shì)偵測(cè)和VR(虛擬現(xiàn)實(shí))/AR(增強(qiáng)現(xiàn)實(shí))/MR(混合現(xiàn)實(shí)等應(yīng)用領(lǐng)域越來越受到關(guān)注，萊森光學(xué)®可以為客戶提供VCSELVCSEL-3D SENSING/TOF檢測(cè)解決方案：LIV光譜/功率積分測(cè)試、NF近場(chǎng)特性測(cè)試、FF遠(yuǎn)場(chǎng)特性測(cè)試、BRDF/BTDF光學(xué)材料AR/VR特性測(cè)試、VCSEL積分球,實(shí)現(xiàn)對(duì)VCSEL單體、模組、及晶圓芯片的能量分布和均勻性測(cè)量、光譜波長(zhǎng)及功率測(cè)量、近場(chǎng)遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量等各種定制化應(yīng)用需求。

 

主要技術(shù)特點(diǎn)

● 光譜范圍400-1100nm；

● 可測(cè)量光斑范圍：45μm – 4 mm 

● 大功率100mW （可加衰減片OD1 - OD5）

● 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)DUT空間光傳輸強(qiáng)度分布和發(fā)散情況（光斑大小、發(fā)散角、功率密度和均勻性）

● 分光衰減系統(tǒng)（直接耦合成像鏡頭和光斑分析儀，一體化設(shè)計(jì)）

 

 

 

 

 

主要技術(shù)指標(biāo)

 

型號(hào)	LS-NF-T100近場(chǎng)測(cè)試
波長(zhǎng)范圍	400-1100nm
像素分辨率	4.5×4.5μm
芯片大小	7.2×5.4mm
可測(cè)光斑范圍	45μm-4mm
分光衰減	可替換OD1-OD5
高分辨率成像鏡頭	10x或更大
NA	0.25
三維位移臺(tái)	X、Y、Z
NF近場(chǎng)軟件	光斑大小、橢圓度、發(fā)散角、功率分布等