進口霍爾效應測試儀 HEMS 電子顯微鏡

價格電議
HEMS 霍爾效應測量系統(tǒng)
上海伯東英國 NanoMagnetics 儀器 HEMS 霍爾效應測量系統(tǒng), 多樣品實驗, 非常適合材料研究等應用.

HEMS 霍爾效應測量系統(tǒng)特點
多樣品實驗, van der Pauw 4接觸點 ; Hall Bar 6接觸點
廣泛的材料: GaAs, lnP, lnAs, Si, Ge, SiGe, HgCdTe, GaN, SiC, AIN, 金屬氧化物和有機導體
非常適合于材料研究, 產(chǎn)品開發(fā)和質量控制
樣品電阻率, 電阻率, 霍爾系數(shù), 霍爾遷移率, 載流子濃度或電流電壓特性
Windows 操作系統(tǒng)用于系統(tǒng)操作, 數(shù)據(jù)采集和分析

HEMS  霍爾效應測量系統(tǒng)可以測量
移動測量
載流子測量
電阻率測量
Van der Pauw 測量
Hall Bar 測量

HEMS  霍爾效應測量系統(tǒng)極帽
可調極帽
25mm 面鉆
連續(xù)可調 0-1, 30mm 的極隙
可選 50mm, 75mm 更大的鉆心

電磁鐵:
±2.ST@ I 0mm 間隙與 25mm 桿面
±35V, ±70A 線圈
磁場 > ±IT @ 25mm 極隙
磁場強度高, 磁極間距大
串聯(lián)線圈電阻: 0.5 0 ( 20℃ )
水冷

HEMS  霍爾效應測量系統(tǒng)樣品臺:
彈簧加載設計選項
Van der Pauw 設計測量
四、六、八觸點廳桿測量設計
容易安裝樣品與彈簧銷
多個樣品安裝
 

英國 NanoMagnetics 儀器 1998年在牛津成立, 作為原子力顯微鏡 AFM 制造商, 主營環(huán)境掃描探針顯微鏡, 低溫掃描探針顯微鏡, 霍爾效應測量系統(tǒng)等, 原子力顯微鏡適用于產(chǎn)品表面特征分析, 生命科學, 原位成像, 材料科學, 薄膜等領域. 原子力顯微鏡 AFM 廣泛應用于牛津大學, 斯坦福, 京都大學, NASA 等學府和科研院所.