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詳細介紹
該3086型1nm-DMA差分靜電遷移分析儀一般和TSI 3082型靜電分級器 、 3777型納米增強儀 以及凝聚粒子計數(shù)器 配套使用，且該分析儀工作流程已經(jīng)被化，不但能夠?qū)⑸⒁輷p失降至 ，而且能夠提高1nm到50nm顆粒物的粒徑測量的粒徑 分辨率。
特點和優(yōu)勢
分析從1到50nm粒徑的顆粒物
SMPS（掃描電遷移粒徑譜儀）的關(guān)鍵組件
應(yīng)用
顆粒物粒徑測量
| 深圳市億天凈化技術(shù)有限公司 |
| 參考價 | 面議 |
更新時間：2023-09-12 10:58:16瀏覽次數(shù)：130
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該3086型1nm-DMA差分靜電遷移分析儀一般和TSI 3082型靜電分級器 、 3777型納米增強儀 以及凝聚粒子計數(shù)器 配套使用，且該分析儀工作流程已經(jīng)被化，不但能夠?qū)⑸⒁輷p失降至 ，而且能夠提高1nm到50nm顆粒物的粒徑測量的粒徑 分辨率。
分析從1到50nm粒徑的顆粒物
SMPS（掃描電遷移粒徑譜儀）的關(guān)鍵組件
顆粒物粒徑測量
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