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X5000薄膜/紙張硅涂布量測(cè)試儀 光學(xué)涂布測(cè)厚儀

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更新時(shí)間:2021-07-28 21:55:59瀏覽次數(shù):270

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

簡(jiǎn)介:產(chǎn)品簡(jiǎn)介 1,Lab-X5000涂布量測(cè)厚儀 利用 X 射線熒光分析可提高您的生產(chǎn)率,既 省時(shí)間又降低成本 2,Lab-X5000 的設(shè)計(jì)滿足各種場(chǎng)合對(duì)質(zhì)量控制的要求,例如在實(shí)驗(yàn)室、工作現(xiàn)場(chǎng)或任何需要

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品簡(jiǎn)介
1,Lab-X5000涂布量測(cè)厚儀利用X射線熒光分析可提高您的生產(chǎn)率,既省時(shí)間又降低成本
2,Lab-X5000 的設(shè)計(jì)滿足各種場(chǎng)合對(duì)質(zhì)量控制的要求,例如在實(shí)驗(yàn)室、工作現(xiàn)場(chǎng)或任何需要分析的地方。
3,Lab-X5000 是一款可靠且性價(jià)比高的X射線熒光分析儀,應(yīng)用于造紙,不干膠等行業(yè),精確測(cè)量硅涂布量。
4,Lab-X5000 型號(hào)優(yōu)化了空氣路徑中的分析性能,不再需要任何外部氣體
5,體積小而緊湊,可連續(xù)每天工作24小時(shí),生產(chǎn)人員也能容易操作
6,Lab-X5000涂布量測(cè)厚儀符合 ASTM D4294, ISO8754, ISO20847  IP336.

Lab-X5000涂布量測(cè)厚儀
使X射線熒光分析如此簡(jiǎn)單。
 
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

1,基本無需樣品制備
2,可直接分析液體和粉末樣品
3,分析范圍廣,具有多元素分析能力
4,檢出下限低
5,堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)可以應(yīng)對(duì)任何惡劣環(huán)境
6,薄膜密封式鍵盤可防塵、防油、防溶劑等
7,無風(fēng)扇設(shè)計(jì) – 減少環(huán)境中灰塵吸入
8,簡(jiǎn)易更換的二次安全窗口可在進(jìn)行液體/粉末分析時(shí),防止樣品泄露損壞儀器
9,自動(dòng)能量鎖定功能,保證好的儀器穩(wěn)定性
10,簡(jiǎn)單的一鍵操作
11,強(qiáng)大靈活的軟件包,客戶可自定義設(shè)置并開發(fā)新的分析方法
12,便捷的預(yù)編程儀器參數(shù)
13,元素定性分析或全定量分析
14,操作者無需更多的技術(shù)背景
15,快速、清晰地顯示分析結(jié)果
16,高精確度的快速分析
17,Lab-X5000涂布量測(cè)厚儀擁有出色的穩(wěn)定性
18,結(jié)果實(shí)時(shí)顯示并更新
19,非實(shí)驗(yàn)室人員也可直接操作
20,分析結(jié)束自動(dòng)打印結(jié)果
 
行業(yè)及市場(chǎng)
 離型膜,離型紙,格拉辛,不干膠,淋膜等硅油的涂布量測(cè)試
石油/石化 - 符合 ASTM D4294, ISO20847, ISO8754  IP336
木材處理 對(duì)于銅、鉻及其他許多成分用液體和粉末來檢測(cè)同樣簡(jiǎn)單
礦物 鋁土礦、石灰?guī)r、高嶺土等
化妝品 - 鈦、鋯等
水泥 - 檢測(cè) MgO Al2O3, SiO2, SO3, Cl, K2O, CaO  Fe2O

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