詳細(xì)介紹
HUSTEC-1600A-MT
大功率IGBT測試設(shè)備
Power Device Static Parameter Tester
大功率IGBT測試設(shè)備產(chǎn)品簡介 Introducion
HUSTEC-1600A-MT是一款大功率器件參數(shù)測試儀,可用于IGBT單管及模塊,SIC器件,MOS管,二極管等功率器件的靜態(tài)參數(shù)測試。
產(chǎn)品測試電流電壓為1600A,±5000V,向下兼容,可升級到3KA/10KV.
VGE可達(dá)±100V;開啟電壓VGETH支持兩種測試方法;
采用插槽式設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu),便于升級和維護(hù);
設(shè)備支持SI基,SIC材料的MOS管,IGBT單管及模塊,二極管測試,晶閘管測試,
自動進(jìn)行分檔測試,既覆蓋大功率特征下的測試范圍,又可保證小功率器件測試精度
支持單點(diǎn)測試,I-V曲線掃描,還具有曲線對比功能;同一規(guī)格型號,不同批次的產(chǎn)品曲線對比,同一規(guī)格,不同廠家之家的產(chǎn)品曲線對比
開放通訊接口,可以連接探針臺做wafer / chip 測試,也可以連接HANDLE,夾具及適配器做模塊測試,
測試數(shù)據(jù)可存儲為Excel文件,WORD報(bào)告
技術(shù)指標(biāo) Technical Specifications
技術(shù)指標(biāo) | |||
★ | 3.4 | VGE(th)柵極閾值電壓 | VGE:0.1~10V±1%±0.01V; |
3.5 | VGE(th) 測試條件與精度 | 集電極電流Ic: 10~50mA±1%±0.5mA; 50~200mA±1%±1mA; 200~1000mA±1%±2mA; | |
★ | 3.6 | VCES集射極截止電壓 | VCES:0-5000V±1%±2V; |
3.7 | VCES 測試條件與精度 | 集電極電流ICES: 0.01~1mA±3%±0.001mA; 1~10mA±2%±0.01mA; 10~50mA±1%±0.1mA; | |
★ | 3.8 | ICES集射極截止電流 | 集電極電流ICES:0.01~50mA 0.001~1mA±3%±0.001mA; 1~10mA±2%±0.01mA; 10~50mA±1%±0.1mA; |
3.9 | ICES 測試條件與精度 | 集電極電壓VCES:50~500V±1%±1V; 500~5000V±1%±2V; | |
★ | 3.10 | VCE(sat)飽和導(dǎo)通壓降 | 集電極電壓VCEs:0.001~10V±0.5%±0.001V |
3.11 | VCE(sat) 測試條件與精度
| 柵極電壓Vge:5~40V±1%±0.01V 集電極電流ICE:0-1600A 0~100A±1%±1A; 100~1600A±1%±1A; | |
★ | 3.12 | Iges柵極漏電流 | 柵極漏電流IGEs:0.01~10μA±2%±0.005μA |
3.13 | Iges測試條件與精度 | 柵極電壓Vge:±1V~100V±1%±0.1V;Vce=0V; | |
★ | 3.14 | VF正向特性測試 | 二極管導(dǎo)通電壓Vf:0.1~10V±1%±0.01V |
3.15 | VF正向特性測試 測試條件與精度 | 電流IF:0~100A±2%±1A; 100~1600A±1%±2A;
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