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光學測量儀的特點與優(yōu)勢
閱讀:2011 發(fā)布時間:2021-1-8光學測量儀的運用與挑戰(zhàn)成為必然。這個挑戰(zhàn)主要來自兩個方面,即可測性與效能性,前者在于滿足日益增多的質(zhì)檢要求,后者在于滿足日益增大的質(zhì)檢數(shù)量。整個社會的應用和選擇的價值觀,都直接和間接體現(xiàn)為對質(zhì)控的需要,讓各類光學測量儀的使用范圍越來越廣泛。不論日用電器或者各工業(yè)類產(chǎn)品的發(fā)展都是兩大趨勢,即為集成化水平越來越高與功能越來越復雜,從而導致零部件不可避免的就會越來越小。
對小的產(chǎn)品的檢測,隨幾何尺寸的縮小而變得逾發(fā)不容易,特別對于肉眼難以辨認的邊界,轉(zhuǎn)角或倒角等等,都是需要由顯微放大的光學系統(tǒng)所組成的光學影像系統(tǒng)來完成。光學檢測與測量的優(yōu)勢就在于再小的產(chǎn)品,可以輕而易舉地放大后,游刃有余地完成自動抓取邊界上的點,并完成對特征是否合格的判定,這些都是在過去的時代中難以想象的。
SAIKEDIGITAL全自動影像測量儀和光學測量顯微鏡都是利用CCD采集變焦鏡下樣品的影像,前面配合X、Y、Z軸移動平臺及自動變焦鏡,通過影像分析原理,應用計算機處理影像信號,對科研樣品進行精密的幾何數(shù)據(jù)測量,并進行數(shù)據(jù)運算。后者針對細微產(chǎn)品或產(chǎn)品的細微部分(5MM以下的幾何尺寸),可以直接進行屏幕檢測與測量。結合運用光學影像測量與光學顯微測量,您可以輕松地掌握生產(chǎn)過程中的產(chǎn)品質(zhì)量和走勢,為您摸準和掌控品質(zhì)提供有力的支持,建立起您得心應手的質(zhì)控方式。
光學測量儀其根本在于其非接觸性和基于機器視覺而發(fā)展起來的人工智能性,光學測量儀的發(fā)展和它所創(chuàng)造出來的價值,正在為越來越多的行業(yè)所認識和認同,也逐漸被更多的為他們的質(zhì)量保證*措施和手段。