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冷熱沖擊試驗(yàn)箱/高低溫溫度測(cè)試實(shí)驗(yàn)箱

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更新時(shí)間:2019-08-19 10:59:30瀏覽次數(shù):510

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)地 國(guó)產(chǎn) 產(chǎn)品新舊 全新
試驗(yàn)材料 金屬 試驗(yàn)方式 其他
自動(dòng)化程度 全自動(dòng)    
冷熱沖擊試驗(yàn)箱/高低溫溫度測(cè)試實(shí)驗(yàn)箱、快速溫度變化,產(chǎn)品主要用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)零部件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具。

詳細(xì)介紹

冷熱沖擊試驗(yàn)箱/高低溫溫度測(cè)試實(shí)驗(yàn)箱產(chǎn)品簡(jiǎn)介:冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)零部件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具。

內(nèi)尺寸:長(zhǎng)×高×寬80×80×80cm

外尺寸(約):長(zhǎng)×高×寬約140×200×150cm(注意設(shè)備進(jìn)門(mén)及進(jìn)實(shí)驗(yàn)室的尺寸是否合適)

溫度范圍:-40℃---10℃~60℃-150℃/-70℃---10℃~60℃-150℃

冷熱沖擊試驗(yàn)箱/高低溫溫度測(cè)試實(shí)驗(yàn)箱產(chǎn)品結(jié)構(gòu):

    冷熱沖擊試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)形式:試驗(yàn)箱采用整體式組合結(jié)構(gòu)形式,既試驗(yàn)箱由位于上部的高溫試驗(yàn)箱,位于下部的低溫試驗(yàn)箱體、位于后部的制冷機(jī)組柜和位于左側(cè)后板上的電器控制柜(系統(tǒng))所組成。此方式箱體占地面積小、結(jié)構(gòu)緊湊、外形美觀,制冷機(jī)組置于獨(dú)立的機(jī)組箱體內(nèi),以減少制冷機(jī)組運(yùn)行時(shí)的震動(dòng)、噪聲對(duì)試驗(yàn)箱的影響,同時(shí)便于機(jī)組的安裝和,電器控制面板置于試驗(yàn)箱的左側(cè)板上以便于運(yùn)行操作。

箱體外壁材料:優(yōu)質(zhì)碳素鋼板,表面作靜電彩噴塑處理。   

箱體內(nèi)壁材料:進(jìn)口SUS304不銹鋼板,耐腐蝕、易清洗、美觀大方。   

保溫材料:優(yōu)質(zhì)超細(xì)玻璃纖維棉。   

樣品架:上下移動(dòng)滑軌導(dǎo)的不銹鋼樣品架。采用雙作用力汽缸提供平穩(wěn)均勻的動(dòng)力,樣品架的定位裝置采用德國(guó)FESTO公司產(chǎn)間接式電傳感器。   

觀察窗:在上箱體(高溫箱)大門(mén)上開(kāi)一個(gè)35×25cm電熱鍍膜防潮隔溫觀察窗。   

電纜穿線孔:在樣品架的上部與高溫試驗(yàn)箱體頂部設(shè)置有滑動(dòng)式電纜穿線管。   

樣品架承重:≥30Kg

試驗(yàn)室照明裝置:防潮燈。

適用標(biāo)準(zhǔn):

1、GB2423.1-89 試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法   

2、GB2423.2-89 試驗(yàn)B高溫試驗(yàn)方法   

3、GB2423.22-89 試驗(yàn)N溫度變化試驗(yàn)方法   

4、GJB150.3-86 高溫試驗(yàn)   

5、GJB150.4-86 低溫試驗(yàn)方法   

6、GJB150.5-86 溫度沖擊試驗(yàn)   

7、GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件   

8、GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件   

9、GB10592-89 高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

10、GB/T 18287-2000 鋰電池測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

 

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