實(shí)驗(yàn)室光束線裝SAXSpoint 5.0

SAXSpoint 5.0 能夠在室溫環(huán)境和非室溫環(huán)境條件下分析幾乎所有材料，具有靈活性。許多其他可選功能使 SAXSpoint 5.0 可以用于未來(lái)的微米級(jí) (USAXS) 應(yīng)用。通過(guò)功能強(qiáng)大的軟件包，可以自動(dòng)進(jìn)行操作和數(shù)據(jù)分析，輕松實(shí)現(xiàn)材料特性的無(wú)損研究。

在短的測(cè)量時(shí)間內(nèi)提供出色的數(shù)據(jù)質(zhì)量

SAXSpoint 5.0 采用高光譜純度和無(wú)散射光束準(zhǔn)直的高亮度 X-射線束。配備強(qiáng)大的微焦斑光源或 MetalJet X-射線源和高性能光學(xué)元件，可在極短的曝光時(shí)間內(nèi)提供出色的測(cè)量結(jié)果。結(jié)合新的混合光子計(jì)數(shù) (HPC) 探測(cè)器，可確保獲得高質(zhì)量的 SAXS/WAXS/GISAXS/RheoSAXS 結(jié)果，以實(shí)現(xiàn)納米結(jié)構(gòu)材料分析。通過(guò)這種出色的設(shè)置，可以實(shí)現(xiàn)*的分辨率，并以同類產(chǎn)品中緊湊的系統(tǒng)尺寸解析高達(dá) 620 nm 的結(jié)構(gòu)。

一次性獲得 SAXS 和 WAXS 數(shù)據(jù)

SAXSpoint 5.0 為您的測(cè)量提供自動(dòng)光束遮擋器選擇和定位。由于它集成了新的 EIGER2 R 探測(cè)器，因此可以進(jìn)行無(wú)窗和無(wú)光束遮擋測(cè)量。

簡(jiǎn)化日常實(shí)驗(yàn)工作

自動(dòng)完成日常測(cè)量工作，加快測(cè)量速度，是 SAXSpoint 5.0 實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)性能。SAXSpoint 5.0 配備了 Stagemaster，它可以自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)所有 X-射線成分和樣品臺(tái)，識(shí)別安裝的樣品臺(tái)，并相應(yīng)地配置系統(tǒng)。這為您的測(cè)量設(shè)置提供好的的可能結(jié)果。使用 ASX 自動(dòng)進(jìn)樣器，對(duì)液體樣品，如分散液和生物樣品，自動(dòng)樣品進(jìn)出。ASX 自動(dòng)進(jìn)樣器可配備 192 個(gè)樣品，并針對(duì)敏感型樣品提供冷卻選件。 

樣品臺(tái)選擇：一套系統(tǒng)適用于所有實(shí)驗(yàn)條件

幾乎所有種類的納米結(jié)構(gòu)材料都可以使用安東帕的各種樣品臺(tái)進(jìn)行分析。使用 TrueFocus 可以輕松、快速地在不同的樣品臺(tái)之間切換，并可確保自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)所有組件。受益于測(cè)量裝置*的靈活性。

• 溫控臺(tái)：在 -150°C 到 600 °C 范圍進(jìn)行控溫研究。

• 濕度樣品臺(tái)：在規(guī)定的相對(duì)濕度和溫度條件下進(jìn)行分析

• GISAXS/GIXD 樣品臺(tái)：在真空條件下或者與*的 GISAXS 加熱模塊（高達(dá) 500℃）聯(lián)用研究納米結(jié)構(gòu)表面和薄膜

• 加熱/冷卻進(jìn)樣器：利用溫控進(jìn)樣器進(jìn)行自動(dòng)研究（多固相/糊狀/液體樣品或毛細(xì)管樣品）

• Tensile 樣品臺(tái)：在定義的機(jī)械載荷下，分析納米結(jié)構(gòu)纖維。定制樣品臺(tái)解決方案。

• RheoSAXS 模塊：一次性進(jìn)行完整的流變和納米結(jié)構(gòu)研究

• 剪切臺(tái)：高達(dá) 350 °C下的剪切實(shí)驗(yàn)

直接獲得結(jié)果：功能強(qiáng)大的控制和數(shù)據(jù)分析軟件

功能強(qiáng)大的 SAXSdrive™ 和 SAXSanalysis™ 軟件解決方案支持自動(dòng)執(zhí)行常規(guī)步驟，如測(cè)量設(shè)置和調(diào)準(zhǔn)，以及綜合數(shù)據(jù)分析。設(shè)置連續(xù)測(cè)量，利用自動(dòng)進(jìn)樣、溫度掃描和時(shí)間相關(guān)研究，并使用可定制的模板分析獲得的 1D 和 2D 數(shù)據(jù)集。確定回轉(zhuǎn)半徑 (RG)、粒徑、Porod 常數(shù)、比表面積、Kratky 曲線等參數(shù)是 SAXSanalysis™ 的標(biāo)準(zhǔn)功能。對(duì)于高級(jí)結(jié)構(gòu)解析 (PCG)，如粒徑、粒徑分布、形狀和內(nèi)部結(jié)構(gòu)，可使用 IFT 和去卷積方法。