SIGMA 500場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 電子顯微鏡

SIGMA 500場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

CARL ZEISS以其前瞻性**的設(shè)計(jì)融合歐洲*制造工藝造就了該品牌在光電子領(lǐng)域無可撼動(dòng)的地位。自成立至今，一直延續(xù)不斷創(chuàng)新的傳統(tǒng)，公司擁有電鏡制造核心*的專有技術(shù)，隨著離子束技術(shù)和基于電子束的分析技術(shù)的加入、是為您提供鎢燈絲掃描電鏡、場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡、雙束顯微鏡(FIB and SEM)、透射電子顯微鏡等全系列解決方案的電鏡制造企業(yè)。其產(chǎn)品的高性能、高質(zhì)量、高可靠性和穩(wěn)定性已得到*廣大用戶的信賴與認(rèn)可。作為電鏡標(biāo)準(zhǔn)的CARL ZEISS將一路*電鏡市場(chǎng)為您開創(chuàng)探求納米科技的嶄新紀(jì)元。

【核心技術(shù)】

蔡司公司推出的Sigma 500場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，分辨率超過0.8nm，為您提供優(yōu)秀分辨率和分析性能科研平臺(tái)。Sigma500專注于的EDS幾何學(xué)設(shè)計(jì)使您可以獲取*的分析性能。借助Sigma直觀便捷的四步工作流程可以快速成像、簡(jiǎn)化分析程序、提高工作效率。您會(huì)比以往更快、更多的獲取數(shù)據(jù)。多種探測(cè)器的選擇使Sigma500可以精準(zhǔn)的匹配您的應(yīng)用程序：您可以獲取微小粒子、表面、納米結(jié)構(gòu)、薄膜、涂層和多層的圖像信息。

SIGMA 500場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡【技術(shù)參數(shù)】

分辨率：0.8nm@30kV STEM

0.8nm @15 kV

1.4 nm @1kV

放大倍數(shù)：10-1,000,000×

加速電壓：調(diào)整范圍：0.02-30 kV(無需減速模式實(shí)現(xiàn))

探針電流： 3pA～20nA(100nA選配) 穩(wěn)定性優(yōu)于 0.2%/h

低真空范圍：2-133Pa(Sigma 500VP可用)

樣品室： 358 mm(φ)，270.5 mm(h)

樣品臺(tái)：5軸優(yōu)中心全自動(dòng)

X=130mm

Y=130mm

Z=50mm

T=-4°-70°

R=360°

系統(tǒng)控制：基于Windows 7的SmartSEM操作系統(tǒng)，可選鼠標(biāo)、鍵盤、控制面板控制

存儲(chǔ)分辨率：32k x 24k pixels

【產(chǎn)品應(yīng)用】

掃描電鏡廣泛用于材料科學(xué)(金屬材料、非金屬材料、納米材料)、冶金、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、半導(dǎo)體材料與器件、地質(zhì)勘探、病蟲害的防治、災(zāi)害(火災(zāi)、失效分析)鑒定、刑事偵察、寶石鑒定、工業(yè)生產(chǎn)中的產(chǎn)品質(zhì)量鑒定及生產(chǎn)工藝控制等。在材料科學(xué)、金屬材料、陶瓷材料半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域，進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析。各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測(cè)量，晶體/晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測(cè)量。