FT110A X射線熒光鍍層厚度測量儀

FT110A X射線熒光鍍層厚度測量儀

概要：

自1978年以來取得傲人銷量的X射線熒光鍍層厚度測量儀的第八代產(chǎn)品FT110A，在測量精度、操作性能、軟件上有新的優(yōu)化。

通過自動(dòng)定位功能，只需把樣品放在樣品臺(tái)上，便能在數(shù)秒內(nèi)自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)觀察樣品焦點(diǎn)，省略了以前手動(dòng)逐次對(duì)焦的操作，大幅提高了測量效果。 

FT110A X射線熒光鍍層厚度測量儀特長：

1.自動(dòng)對(duì)焦功能 自動(dòng)接近功能
   在樣品臺(tái)上放置各種高度的樣品時(shí)，只要高低差在80mm范圍內(nèi)，即可在3秒內(nèi)自動(dòng)對(duì)焦被測樣品。由此進(jìn)一步提高定位操作的便捷性。

    ●自動(dòng)對(duì)焦功能    簡便的攝像頭對(duì)焦

    ●自動(dòng)接近功能    適合位置的對(duì)焦           

2.通過新薄膜FP法提高測量精度

   實(shí)現(xiàn)微小光束的高靈敏度，通過微小準(zhǔn)直器提高了膜厚測量精度。鍍層測量時(shí)間比本公司原有機(jī)型縮短了1/2。另外，針對(duì)檢測器的特性開發(fā)了新的EP法，可進(jìn)行無標(biāo)樣測量。測量結(jié)果可一鍵生成報(bào)告書，簡單方便。

    ●新薄膜EP法    

      減少檢量線制作的繁瑣程度、實(shí)現(xiàn)了設(shè)定測量條件的簡易化

      無標(biāo)樣測量方法可進(jìn)行多5層的膜厚測量

    ●自動(dòng)對(duì)焦功能和距離修正功能    

      凹凸落差的樣品可通過薄膜EP法做成的相同測定條件進(jìn)行測量

    ●靈敏度提高

      鍍層測量時(shí)間比本公司原有機(jī)型縮短了1/2

    ●生成報(bào)告功能

      一鍵生成測量報(bào)告書

3.廣域樣品觀察

對(duì)測量平臺(tái)（250mm*200mm）上放置的樣品拍攝一張靜態(tài)畫面后，可在獲取的廣域觀察圖像上狹域的觀察位置。由此，可大幅減少多數(shù)測量點(diǎn)位置的選取時(shí)間，以及在圖像上難以尋找的特定點(diǎn)位置的選定時(shí)間。