Agilent 5110 ICP-OES等離子體發(fā)射光譜儀

Agilent 5110 ICP-OES等離子體發(fā)射光譜儀光學(xué)分辨率 ≤0.009nm（在200nm） 穩(wěn)定性 8小時,小于1%（不加內(nèi)標(biāo),不采用漂移修正。 重復(fù)性 詳情萊頓公司 檢出限 Al 396.152 0.9；Cr 267.716 0.2；Fe 238.204 0.2 ；Cd 214.439 0.08 ；Co 238.892 0.3 波長范圍 177～785nm 儀器種類 全譜直讀。

Agilent 5110 ICP-OES等離子體發(fā)射光譜儀

Agilent 5110 同步垂直雙向觀測 (SVDV) ICP-OES 具有*的智能光譜組合 (DSC) 技術(shù)，可以實(shí)現(xiàn)同步的水平和垂直測量。配合使用垂直炬管與速度更快且無需氣體吹掃的 VistaChip II CCD 檢測器，5100 ICP-OES（也稱作 ICP-AES）能夠以一半的氬氣用量來運(yùn)行具挑戰(zhàn)的樣品，速度可提升 55%，并且不影響任何分析性能。

Agilent 5110 ICP-OES等離子體發(fā)射光譜儀產(chǎn)品特性：

●  *的智能光譜組合 (DSC) 技術(shù)可實(shí)現(xiàn)同步水平和垂直信號測量，消耗更少氣體即可運(yùn)行快的 ICP-OES 分析

●  高級閥系統(tǒng) (AVS) 可降低每次分析成本并使分析效率提高一倍以上

●  垂直炬管設(shè)計可以測量包括高基質(zhì)和揮發(fā)性有機(jī)溶劑在內(nèi)的復(fù)雜樣品

●  通過分析過程中精準(zhǔn)氣泡注入控制，可選 AVS 能夠有效縮短樣品提升、穩(wěn)定時間和清洗延時，從而實(shí)現(xiàn)高精度的分析

●  固態(tài) RF 系統(tǒng)可提供穩(wěn)定的等離子體，確保*穩(wěn)定的分析性能

●  IntelliQuant 模式使樣品中的所有元素一目了然，大大簡化了方法開發(fā)過程并實(shí)現(xiàn)了快速樣品篩選

●  直觀的 ICP Expert 軟件和 DSC 技術(shù)使方法開發(fā)更為便捷流暢

●  *集成式切換閥與即插即用式炬管*程度減少了培訓(xùn)需求，確保實(shí)現(xiàn)快速啟動。

●  5110 提供三種靈活配置：同步垂直雙向觀測、垂直雙向觀測和垂直觀測。