JMS-T200GC 氣相色譜-飛行時(shí)間質(zhì)譜儀

JMS-T200GC 氣相色譜-飛行時(shí)間質(zhì)譜儀

◇  通過高精度的精確質(zhì)量測試推測元素的組成

AccuTOF GCx 能長時(shí)間且穩(wěn)定地進(jìn)行高靈敏度, 高分辨率, 高質(zhì)量準(zhǔn)確度的測試。此外, AccuTOF GCX 作為GC-HR TOFMS具有高數(shù)量級的動(dòng)態(tài)范圍, 在同一譜圖內(nèi)不管是測試基峰還是小峰, 質(zhì)量準(zhǔn)確度都非常高, 因此能準(zhǔn)確地推測分子離子和碎片離子的元素組成, 基于寬動(dòng)態(tài)范圍還能容易地對不同濃度的混合樣品進(jìn)行GC/MS 測試。

◇  高分辨率

高質(zhì)量準(zhǔn)確度（不同濃度下的同一個(gè)離子峰)

八氟萘

長時(shí)間的穩(wěn)定性 

◇  高靈敏度

連續(xù)測試八次100fg 八氟萘（OFN) 后, 由EIC中的積分面積標(biāo)準(zhǔn)偏差計(jì)算出儀器的檢出限（IDL）為16fg。
CV ：相對標(biāo)準(zhǔn)偏差 IDL ：儀器檢出限

◇  寬質(zhì)量范圍

用Direct TOFMS也能測試低聚物

AccuTOF GCx 不僅具有寬質(zhì)量范圍, 還有多種直接進(jìn)樣系統(tǒng), 可以測試GC無法進(jìn)樣測試的大分子量樣品。

聚苯乙烯5200 的FD 質(zhì)譜圖

◇  多種電離方法和進(jìn)樣技術(shù)

FI 法和FD 法 較適合于確認(rèn)分子量的軟電離方式

FI / FD 法與EI 法或CI 法相比, 是分子離子內(nèi)部能量較小的電離方法, 由于這種軟電離方式不容易引起碎片化, 因此較適合于確認(rèn)分子量。

FI（Field Ionization ：場電離）法

JMS-T200GC 氣相色譜-飛行時(shí)間質(zhì)譜儀通過GC 或標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)樣口能將樣品導(dǎo)入離子源。CI 源需要依據(jù)待測對象化合物選擇試劑氣體種類, 但FI 源不需要。

軟電離技術(shù)也可以適用于難揮發(fā)性樣品，對容易碎片化的含氟化合物也檢測出了分子離子。

FD（Field Desorption ：場解吸）法

將樣品直接涂在發(fā)射體上。

很適合分析熱不穩(wěn)定化合物。

很適合于可溶于非極性溶劑的樣品

能測試可以分散在溶劑中的粉末樣品

能測試低～中極性的金屬絡(luò)合物。

能分析一般GC/MS 無法測試的樣品, 如聚合物, 高分子材料等。

對難揮發(fā)性的離子液體也能迅速獲得分子量信息。

◇ EI/FI/FD 復(fù)合離子源（選配件）

同一個(gè)離子源可以使用EI 法（硬電離方式）和 FI/FD 法（軟電離方式）?？珊唵窝杆俚厍袚QEI 和 FI/FD電離方式。

直接進(jìn)樣方式（選配件）

根據(jù)用途備有兩種直接進(jìn)樣桿，電離方法可以選擇EI 和CI。

DEP (Direct Exposure Probe) : 較適合高沸點(diǎn)化合物 / 熱不穩(wěn)定化合物, 將溶在溶劑中的樣品涂在燈絲*。

DIP (Direct Insertion Probe):  較適合于高沸點(diǎn)化合物及不溶于溶劑的樣品,固體樣品可以直接放入的玻璃樣品管

EI 和FI 結(jié)合的定性分析

對EI的質(zhì)譜圖可用譜庫檢索，根據(jù)碎片離子的成份推斷可獲得結(jié)構(gòu)信息。另一方面根據(jù)FI檢測出的分子離子能推斷出分子量和元素成份。通過綜合來自EI和FI的信息，就可以進(jìn)行高度準(zhǔn)確的定性分析而不必單純地依賴譜庫檢索，這種組合技術(shù)對于雜質(zhì)等未知成分的定性分析非常有效。