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詳細(xì)介紹
ZetaView納米顆粒跟蹤分析儀穩(wěn)定性
自動(dòng)校準(zhǔn)程序會(huì)持續(xù)工作，即便是樣品池被取出后。防震動(dòng)設(shè)計(jì)提高了視頻圖像的穩(wěn)定性。通過掃描多個(gè)子體積并進(jìn)行平均，就可以得到可靠的統(tǒng)計(jì)結(jié)果。有3種測(cè)量模式可供選擇：粒徑，zeta電位和濃度。樣品池通道集成在一個(gè)插入式的盒子中，盒子可提供溫度控制以及同管理單元的耦合。
自動(dòng)掃描，多可達(dá)100個(gè)子體積；
自動(dòng)聚焦；
小巧，便于攜帶；
防震動(dòng)；
光源從紫外線到紅光；
插入式樣品池；
理論
平移擴(kuò)散常數(shù)可通過直接觀測(cè)待測(cè)顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)計(jì)算得到。通過測(cè)試電泳遷移率，可以得到zeta電位。
納米粒子跟蹤分析（NTA）和動(dòng)態(tài)光散射（DLS）
所有的光散射儀器，包括粒子跟蹤技術(shù)，都存在一個(gè)問題：當(dāng)顆粒大小低于100nm時(shí)，靈敏度會(huì)迅速的降低。動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)的低檢測(cè)限是0.5nm，對(duì)于納米顆粒跟蹤分析，其低檢測(cè)限是10nm。通常，DLS和NTA的主要區(qū)別就在于濃度范圍。對(duì)于DLS，當(dāng)樣品濃度太低時(shí)，zetaview可以非常圓滿的完成檢測(cè)任務(wù)。相反，對(duì)于高濃度的樣品，DLS方法會(huì)非常的適合。
測(cè)量范圍
測(cè)量范圍依賴于樣品和儀器。對(duì)于金樣品，顆粒跟蹤技術(shù)的檢測(cè)下限為10nm；相應(yīng)的，如果樣品的散射能力較弱，則檢測(cè)下限會(huì)變得更大。假如樣品穩(wěn)定，不會(huì)沉淀或漂浮，zeta電位測(cè)量的粒徑上限為50微米，對(duì)于粒徑測(cè)量為3微米。
源于視頻分析的顆粒計(jì)數(shù)
顆粒濃度可通過視頻分析得到，并歸一化處理，散射體積對(duì)粒徑?？蓹z測(cè)的小濃度為105粒子/cm3，大為1010粒子/cm3。對(duì)于200nm的顆粒，大體積濃度為1000ppm。
準(zhǔn)確度和精度
Zeta電位：準(zhǔn)確度5mv，精度4mv，重現(xiàn)性5mv；
粒度測(cè)試（對(duì)于100納米的標(biāo)準(zhǔn)乳膠顆粒）：準(zhǔn)確度6nm，精度4nm，重現(xiàn)性4nm；
濃度測(cè)試（100納米的顆粒，濃度10Mio粒子/ml）：準(zhǔn)確度0.8 Mio/ml，精度0.5Mio/ml，重現(xiàn)性1Mio/ml；
只要相機(jī)設(shè)置正確，樣品處理適當(dāng)，則以上所有的數(shù)據(jù)均有效。
方法
Zetaview激光散射顯微鏡對(duì)于低于1微米衍射極限100倍的納米粒子是非常敏感的。
ZetaView納米顆粒跟蹤分析儀技術(shù)參數(shù)
測(cè)量原理 | zeta電位（微電泳），粒徑（布朗運(yùn)動(dòng)），顆粒濃度（視頻評(píng)價(jià)） |
光學(xué)設(shè)計(jì) | 具有單個(gè)粒子跟蹤功能的激光散射視頻顯微鏡，自動(dòng)校準(zhǔn)，自動(dòng)聚焦 |
測(cè)量池 | 石英玻璃測(cè)量池 |
施加電壓 | Zeta電位：-24V，+24V 粒徑：0V |
光學(xué)系統(tǒng) | 顯微鏡物鏡10倍變焦，數(shù)字相機(jī)，640×480px，30和60幀每秒 激光類型依賴于應(yīng)用 |
Zeta電位測(cè)試范圍 | -500~500mv |
可測(cè)的粒徑范圍 | Zeta電位：0.01-100微米 粒徑：0.01-3微米 下限和上限依賴于樣品和激光 |
PH范圍 | 1-13 |
溫度范圍 溫度控制 | 5-45℃（環(huán)境溫度） RT-5℃，大45℃ |
電導(dǎo)率范圍 | 0-15ms/cm |
內(nèi)部控制-輸出 | 溫度，電導(dǎo)率，電場(chǎng)，漂移 |
準(zhǔn)確度 | Zeta電位：±4mv；粒徑：±6nm（100nm的乳膠粒子標(biāo)準(zhǔn)品） |
重現(xiàn)性 | Zeta電位：±4mv；粒徑：±5nm（100nm的乳膠粒子標(biāo)準(zhǔn)品） |
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