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北京恒通瑞利儀器有限公司>>>>IDP-6300鍍層測(cè)厚儀

IDP-6300鍍層測(cè)厚儀

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更新時(shí)間:2018-11-08 17:30:33瀏覽次數(shù):745

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產(chǎn)品簡介

IDP-6300鍍層測(cè)厚儀是專門針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。

詳細(xì)介紹

IDP-6300鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用領(lǐng)域

  針對(duì)企業(yè)應(yīng)對(duì)歐盟、北美RoHS環(huán)保指令精心設(shè)計(jì)。不但可以測(cè)試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、銻、硒、砷等重金屬,還能測(cè)試無鹵素指令的溴、氯等有害元素及金屬鍍層。

  已在有色金屬、連接器、端子、印刷、玩具、服飾、醫(yī)療設(shè)備、地礦、電子、電器、五金、PCB、半導(dǎo)體、通信、電鍍、首飾、手表、汽車、鋼鐵、鞋材、皮革等行業(yè)得到廣泛應(yīng)用。

性能特點(diǎn)

◆ 精密的三維移動(dòng)平臺(tái);

◆ 的樣品觀測(cè)系統(tǒng);

◆ *的圖像識(shí)別;

◆ 輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè);

◆ 四種微孔聚焦準(zhǔn)直器, 自動(dòng)切換;

◆ 雙重保護(hù)措施 ,實(shí)現(xiàn)無縫防撞;

◆ 采用大面積高分辨率探測(cè)器,有效降低檢出限,提高測(cè)試精度;

IDP-6300鍍層測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)

測(cè)試對(duì)像

粉末、固體、液體

元素分析范圍

鈉(Na)- 鈾(U)

同時(shí)多可測(cè)元素

36種

含量分析范圍

1ppm~99.99%

工作穩(wěn)定性

總熒光強(qiáng)度為0.1%

測(cè)試時(shí)間

60~200秒

探測(cè)器分辨率

127eV±5

處理芯片

進(jìn)口(64位)DSP數(shù)字信號(hào)處理芯片

多道分析器

2048道

X射線光管

功率50W,靶材可選Ag、Rh、W、Mo

高壓電源

電壓范圍0~50KV,穩(wěn)定度每小時(shí)小于0.05%

外型尺寸

720mm×520mm×360mm(不包括支腳)

測(cè)量倉

590mm×400mm×120mm

重量

60Kg

低檢出限

Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm

鍍層技術(shù)參數(shù)

可測(cè)鍍層數(shù)

多可達(dá)5層

鍍層種類

單金屬鍍層、合金鍍層

鍍層識(shí)別精度

薄可測(cè)試0.005μm

厚度測(cè)試范圍

輕金屬(如:Ti、Cr等)0.01~50um

中金屬(如:Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等)0.01~30um

重金屬(如:Pt、Au、Pb等)0.005~15um

標(biāo)準(zhǔn)配置(儀器外圍配置)

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