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廣州標旗光電科技發(fā)展股份有限公司>>>>Sphere-3000光學元件反射率測量儀

Sphere-3000光學元件反射率測量儀

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更新時間:2021-08-04 15:22:26瀏覽次數(shù):458

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產(chǎn)品簡介

Sphere-3000光學元件反射率測量儀

詳細介紹

Sphere-3000 光學元件反射率測量儀

 

Sphere3000是一套全波長顯微球面光學元件光譜分析儀,能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。

 

Sphere3000光學元件反射率測量儀-特點:

Ø         顯微測定微小領(lǐng)域的反射率  物鏡對焦于被測物微小區(qū)域(φ60μm

Ø         CIE顏色測定  X Y色度圖,x, y, L, a, b, 飽和度,主波長等

Ø         檢測速度快  高性能探測器,能在幾秒內(nèi)實現(xiàn)重現(xiàn)性高的測定

Ø         消除背面反射光 無需進行背面防反射處理即可快速準確地測定表面反射率

 

Sphere3000光學元件反射率測量儀-技術(shù)參數(shù)

型號

Sphere-3000I型)

Sphere-3000III型)

檢測范圍

380~800nm

360~1100nm

波長分辨率

1nm

1nm

相對檢測誤差

1%

0.5%

測定方法

與標準物比較測定

被測物再現(xiàn)性

±0.1%以下(2σ)        380nm~410nm                                                    ±0.05%以下(2σ)      (410nm~800nm)

±0.1%以下(2σ)

(380nm~410nm)                                                    ±0.05%以下(2σ)

          (410nm~1100nm)

單次測量時間

1s

精度

0.3nm

被測物N.A.

0.12(使用10×對物鏡時)                                                                                  0.24(使用20×對物鏡時)                                                                                   

被測物尺寸

直徑>1mm

厚度>1mm(使用10×對物鏡時)

厚度>0.5mm(使用20×對物鏡時)

被測物

測定范圍

φ60μm(使用10×對物鏡時)                                                                            φ30μm(使用20×對物鏡時)

設(shè)備重量

15kg(光源內(nèi)置)

設(shè)備尺寸

300(W)×550(D)×570(H)mm

使用環(huán)境

 水平且無振動的場所

溫度:23±5;

        濕度:60%以下、無結(jié)露;

操作系統(tǒng)

Windows XP, Windows VistaWin7

軟件

分光反射率、物體顏色、單層膜厚(有干涉條紋)和鍍膜(有干涉條紋)折射率測定

尺寸

480*400*580mm

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