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GB-2423.1-89電路板冷熱沖擊試驗(yàn)箱

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更新時(shí)間:2019-05-25 13:24:50瀏覽次數(shù):688

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定時(shí)功能 無(wú) 結(jié)構(gòu)類(lèi)型 其他
控溫范圍 見(jiàn)閑書(shū)    
GB-2423.1-89電路板冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于工業(yè)產(chǎn)品的可靠性及環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn),具有溫度控制精度準(zhǔn)確和控制范圍寬的特點(diǎn),利用低溫及高溫蓄冷、熱儲(chǔ)存槽,依動(dòng)作需要打開(kāi)DAMPER,將儲(chǔ)存槽內(nèi)之冷熱溫度導(dǎo)入試驗(yàn)槽內(nèi)從而達(dá)到快速溫度沖擊效果,采用平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)(BTC)+ 特殊可調(diào)百葉送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng),以P.I.D.方式控制SSR,使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量,故能*穩(wěn)定使用

詳細(xì)介紹

二、滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)  

DLTS系列產(chǎn)品能滿(mǎn)足以下各項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn):

GB-2423.1-89IEC68-2-1)試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法。(耐寒)

GB-2423.2-89IEC68-2-2)試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法。(干熱)

GJB150.3-86  GJB150.4-86(MIL-STD-810D)  低溫試驗(yàn)方法。

GB10589-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

MIL-STD-810D 方法501.2 方法502.2

GB/T2423.22-02/-87試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法

GJB150.5-86 溫度沖擊試驗(yàn)

GJB360.7-87 溫度沖擊試驗(yàn)

GJB367.2-87  405溫度沖擊試驗(yàn)

 

控制方式與特色︰

   利用低溫及高溫蓄冷熱儲(chǔ)存槽,依動(dòng)作需要打開(kāi)DAPER,達(dá)到快速衝擊效果;平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)(BTC),以P.I.D.方式控制SSR,使系統(tǒng)之加熱量等於熱損耗量,故能長(zhǎng)期穩(wěn)定使用。

性能︰水冷式水溫在25℃,空載時(shí)

1.1試驗(yàn)槽溫度使用範(fàn)圍:-65℃~+150

1.2高溫槽溫度設(shè)定範(fàn)圍:+60~+150 

     高溫槽升溫時(shí)間:RT(室溫)+150 45min(室溫在10~30℃時(shí))

1.3低溫槽溫度設(shè)定範(fàn)圍:-80℃~-10

     低溫槽降溫時(shí)間:RT(室溫)-80℃ 約60min(室溫在10~30℃時(shí))  

1.4溫度波動(dòng)度:±1.0

1.5溫度偏差:≤±2.0

1.6溫度恢復(fù)時(shí)間:≤5分鐘(塑膠IC負(fù)載2.5KG)

1.7高低溫暴露時(shí)間:30分鐘以上

1.8內(nèi)箱尺寸:350*350*400mm

溫馨提示?。?!

由于各款檢測(cè)儀器都有行業(yè)的特性,同一款產(chǎn)品名稱(chēng)相同,但因針對(duì)行業(yè)不同,客戶(hù)產(chǎn)品不同,符合、國(guó)家行業(yè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)也不一樣,儀器設(shè)備應(yīng)根據(jù)客戶(hù)使用的要求確定材質(zhì)、工藝、技術(shù)參數(shù)、控制程序等相關(guān)配置。

該旺鋪所發(fā)布和各款檢測(cè)設(shè)備價(jià)格僅為展示價(jià)格,不能作為實(shí)際成交價(jià),實(shí)際成交價(jià)及圖片以我司銷(xiāo)售人員根據(jù)客戶(hù)要求做出的報(bào)價(jià)方案為準(zhǔn)

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