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開爾文測試夾 KEZ 60,KEZ 60測試夾

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更新時間:2017-05-18 13:19:48瀏覽次數(shù):816

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產(chǎn)品簡介

開爾文測試夾 KEZ 60,KEZ 60測試夾 可根據(jù)四線歐姆或Kelvin測試方法測試低歐姆量程的電阻。

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品介紹:

開爾文測試夾 KEZ 60,KEZ 60測試夾 可根據(jù)四線歐姆或Kelvin測試方法測試低歐姆量程的電阻。


主要功能:

配有四線夾具的 Kelvin Clamp KEZ 60 適合測試低電阻大尺寸樣品的電阻值。

特別設(shè)計了 10 mm和 60 mm的安全觸點。

量程從一微歐姆至一百萬歐姆。

zui大測試連續(xù)電流不超過 1 A。

zui大測試短暫電流不超過 10 A。

連接測試儀器 Milli-TO 3 和 MO 3 時,連續(xù)操作測試電流可高達(dá) 1 A。


參考數(shù)據(jù):

根據(jù)四線歐姆或Kelvin配有四線夾具

觸點面積直徑:10~60 mm

zui大測試電流:10 A

量程:10-6至106 Ohm

配有4個香蕉插頭的 1 m長連接線

4 mm觸點保護(hù)

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