bowman美國膜厚測試儀是利用X射線熒光(XRF)進行鍍層厚度測量和材料分析,提高過程和質量控制。
采用新改進的基本參數法,無論是無標準片測量還是有標準片測量,都能快速并且準確的獲得測量結果。為了簡化樣品放置,X射線源和數字半導體接收器置于了 BA100 的底部,從而可以采用射線向上的測量技術。
可以勝任測量傳統(tǒng)的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強度不夠而無法測量到的結構。
bowman美國膜厚測試儀
* 儀器的特長:廣泛應用型可測元素:AL~U
* X射線管:小型空氣冷卻型高功率X射線管球(W靶)
* 管電壓:45kV
* 管電流:1mA Be
* 窗濾波器:一次濾波器:A1-
* 自動切換二次濾波器:Co-
* 自動切換檢測器:比例計數管
* 樣品觀察:CCD攝像機
* 對焦方式:激光自動對焦
* 測定軟件:世界上zui的FP法。數學計算測量方法 .
* 安全機能:測量室門自鎖功能 Z軸防沖撞功能 儀器自診斷功能
* 儀器介紹:測量數據與Word和Excel鏈接自動生成報告和數據處理