四探針方阻電阻率測試儀四探針方阻電阻率測試儀
規(guī)格及型號
規(guī)格型號 | 310 |
電阻 | 10-7~2×107Ω |
2.電阻率范圍 | 10-8~2×108Ω-cm |
3.電導率 | 5×10-8~108s/cm |
4.測試電流范圍 | 1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA |
5.測量電壓量程 | 測量電壓量程:2mV 20mV 200mV 2V 測量精度:±(0.1%讀數(shù)) 分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV |
6.電流精度 | ±0.1%讀數(shù) |
7.電阻精度 | ≤0.3% |
8.顯示讀數(shù) | 液晶顯示:電阻值、電阻率、電導率值、溫度、單位自動換算、橫截面、高度、電流、電壓等 |
9.測試方式 | 四端測量法 |
10.測量裝置(治具) | 選購 1.標準方體和圓柱體測量裝置:測試行程:L70mm*W:60mm 2.定制治具 |
11.工作電源 | AC 220V±10%.50Hz功 耗:<30WH |
12. 主機外形尺寸 | 約330mm*350mm*120mm |
13.凈重量 | 約6kgNet |
14.標配外選購 | 1.標準校準電阻1-5個;2.PC軟件一套;3.電腦和打印機依據(jù)客戶要求配置;4.計量證書1份 |
本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,壓強 配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產品及測試項目要求選購.
雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。
標準要求:
該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。