企業(yè)文化:
濟(jì)南創(chuàng)譜儀器有限公司是一家集光學(xué)、精密機(jī)械、電子、計(jì)算機(jī)技術(shù)于一體的高科技企業(yè)。目前公司的手動(dòng)探針臺、光學(xué)隔振平臺、光學(xué)積分球、電控位移臺、手動(dòng)位移臺、光學(xué)調(diào)整架等產(chǎn)品已經(jīng)形成產(chǎn)品系列化,規(guī)格多元化,國內(nèi)多家科研單位、激光加工設(shè)備廠商、光纖設(shè)備廠商在使用我們的產(chǎn)品。 創(chuàng)譜儀器主要生產(chǎn)經(jīng)營:光源(氙燈/光催化氙燈光源,鹵鎢燈光源,氘燈,汞燈,多波長可調(diào)光源,激光器)、分光單色儀、光學(xué)積分球、光電探測器、數(shù)據(jù)采集器、光譜測量系統(tǒng)、電控精密位移臺、手動(dòng)精密位移臺、光學(xué)調(diào)整架、光學(xué)平臺、光學(xué)元件等系列產(chǎn)品。
我們誠心聆聽用戶的需要與批評,作為不斷改進(jìn)的動(dòng)力,能讓您滿意創(chuàng)譜儀器的產(chǎn)品及服務(wù),就是我們的成就。我們堅(jiān)持從設(shè)計(jì)、零件選型、制造、裝配、檢驗(yàn)、包裝、運(yùn)輸、直到售后服務(wù)做好各個(gè)方面質(zhì)量保證,就是要讓您 “付有所值",以合理的價(jià)位得到優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品,這是我們對您選擇創(chuàng)譜儀器真誠的回報(bào)。
濟(jì)南創(chuàng)譜儀器始終以滿足用戶需求為宗旨,分別于北京、 深圳設(shè)立分公司,為用戶提供及時(shí)周到的銷售與技術(shù)服務(wù)。“研發(fā)創(chuàng)新、優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品、高效服務(wù)" 是我們的經(jīng)營理念, 公司長期重視優(yōu)質(zhì)高效、短時(shí)間為客戶開發(fā)產(chǎn)品及提供技術(shù)支持。濟(jì)南創(chuàng)譜儀器真誠的希望與國內(nèi)外同仁攜手合作,為推動(dòng)我國光電產(chǎn)業(yè)迅猛發(fā)展做出貢獻(xiàn)。
產(chǎn)品信息:
PH綜合表征分析探針臺 創(chuàng)譜儀器
在實(shí)際得科研生產(chǎn)中,由于樣品/晶圓(Wafer)得尺寸越來越大,用于測試的探針臺相當(dāng)昂貴,我司根據(jù)客戶市場應(yīng)用自主研發(fā)的這款結(jié)構(gòu)小巧,功能實(shí)用,成本較低的簡易式探針臺,在滿足基本測試功能基礎(chǔ)上,去除了非必要得部件,該探針臺系統(tǒng)包含:顯微鏡位移裝置,探針測試系統(tǒng),探針臺臺體,顯微成像系統(tǒng),高精度樣品臺;
創(chuàng)譜儀器可以根據(jù)客戶應(yīng)用搭建探針臺,以達(dá)到更好得使用效果和性價(jià)比。
技術(shù)參數(shù):
PH綜合表征分析探針臺 創(chuàng)譜儀器
◆兩邊半圓形探針架,可以放置最多6個(gè)探針座,且方便放置探針卡集成4路吸附開關(guān),方便吸附
◆可用于12寸以內(nèi)樣品測試XY行程115X115mm,Z軸調(diào)節(jié)10mm,360°旋轉(zhuǎn)粗調(diào)+士5°精調(diào)
◆1微米以上電極/PAD使用
◆可用于硅封裝的內(nèi)部觀測和光譜特性分析,需要紅外光源和紅外攝像機(jī)
◆有效像素2000萬,有效像素1600 (H)*1200 (V) 可以拍照錄像,也可以連接電腦
◆HDMI輸出支持: 1280*1024 (默認(rèn))、1680X1050、1440*900
◆選用2X,5X,10X,20X,50X四種物鏡,工作距離分別是: 34.6mm,45mm,34mm;30.8mm,20.5mm,鼻輪支架帶五孔鼻輪
◆集成高精度高穩(wěn)定性手動(dòng)位移臺,XYZ行程50mm,精度lum
◆整體交叉滾珠導(dǎo)軌,超高精度,超高穩(wěn)定性
◆模塊化設(shè)計(jì),調(diào)節(jié)精度 3 微米,可調(diào)磁性吸附固定
◆電壓 1400V,阻抗 50 歐姆XYZ 軸行程分別是 13mm行程
◆位移放置:XYZR四軸調(diào)節(jié)XY行程115X115mm,Z軸調(diào)節(jié)10mm,360°旋轉(zhuǎn)粗調(diào)+士5°精調(diào)
◆整體位移精度lum,(根據(jù)客戶要求定制生產(chǎn))
◆多被用于晶圓測試、LED測試、功率器件測試、MEMS測試、PCB測試、液晶面板測試、太陽能電池片測試、材料表面電阻率測試等;